用於測量光度量的良好配件
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輻照度
輻射度和亮度
LED 測量套筒
應用
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應用
EOP – 用於測量輻照度的光學探頭
Instrument Systems 提供一系列用於測量輻照度和通用輻射耦合的 EOP。這些 EOP 的主要差別在於光輸送量、余弦修正度數和光譜範圍。所有 EOP 光學探頭都包含一個用於散射入射光的漫射器。在漫射器的後面是光纖的進口面，光通過它耦合到光譜儀。
應用
對於一般應用，建議使用光學探頭 EOP 120 和 EOP 121（橫向纖維束連接器），因為它們可以在好的余弦修正和好的光輸送量之間實現良好折衷。
需要非常好的余弦修正來測量擴展光源，儘管這總是以光輸送量為代價。光學探頭 EOP-146 適合此用途。
光學探頭 EOP 140 僅適用于需要高光輸送量的應用。型號 EOP 542 適用於固定視場 (5.7º) 測量，主要用於測量直射陽光。
Instrument Systems 提供積分球 ISP 40，可以廣泛的光譜範圍實現更優化的余弦修正。由於球的積分效應，無論光束收斂還是發散都會捕獲整個光束，並通過光纖束與光譜儀耦合。
產品類型
| 型號 | 餘弦校正精度 | 光傳導率 | 光譜範圍 | 用途 |
| 配光纖束連接 | ||||
|
EOP-146 |
良好 |
中等 |
190-2500 nm |
用於發散光源 |
|
EOP-120 |
中等 |
良好 |
190-1700 nm |
通用 |
|
EOP-121 |
中等 |
良好 |
190-1700 nm |
通用， 扁平造型 |
|
EOP-140 |
低 |
高 |
190-2500 nm |
弱光輻射 |
|
EOP-542 |
n/a |
高 |
190-2500 nm |
5.7° 視野 |
| 配 SMA 光纖連接 | ||||
|
EOP-350 |
很低 |
良好 |
190-5000 nm |
紅外線 |
| Integrating sphere | ||||
|
ISP40-101 |
優良 |
低 |
220-2500 nm |
Spectralon 圖層，測量紫外線 |
|
ISP40-102 |
優良 |
低 |
240-2600 nm |
硫酸鋇（BaSO4）塗層，測量寬光譜範圍 |
TOP 200 –用於輻射和亮度測量的光學探頭
TOP 200 光學探頭基於普裡查德式光學設計，帶有集成式取景相機。
產品特長：
- 普裡查德式光學設計配有傾斜度僅 15º 的孔鏡，可以提供非常圓的清晰圖像點
- 光纖的靈活連接和獲取可重現讀數的專利模式混合器，以及非常低的偏振靈敏度
- 可通過軟體選擇的 6 種測量點大小
- 具有寬視場的內部取景相機
- 下限的測量點：80 µm
- 測試對象的可選照明
TOP 150 是具有單孔徑的低成本替代產品。
測量應用
測得的輻射強度由 TOP 200 通過多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的專利模式混合器可確保光纖中的光透射均勻，即使光纖位置改變，也可產生可重現讀數。
普裡查德原則支持在測量過程中觀察視場，並監控視場進行準確定位。取景相機的圖像由 SpecWin Pro 軟體自動導入並與讀數一起保存。
產品類型
| 型號 | 描述 |
| 基本規格和光纖 | |
|
TOP200-100 |
光學探頭的基本規格，帶多模光纖和光纖束連接器 （無鏡頭和光纖） |
|
TOP200-203 |
帶模式混合器和 PLG 適配器的多模光纖（長度為 2.3 mm）； 300–2200 nm |
|
TOP200-204 |
帶模式混合器和 PLG 適配器的 UV 多模光纖（長度為 2.3 mm）； 190–1350 nm |
|
TOP150-100 |
基於Pritchard光學原理的基本伸縮光學探頭，具有單光圈和集成取景器攝像頭（不含鏡頭和光纖） |
| 鏡頭和微距鏡頭 | |
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TOP100-308 |
定焦鏡頭 28 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
|
TOP100-311 |
定焦鏡頭 60 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
|
TOP100-322 |
定焦鏡頭 105 mm; F/4,8; 200–800 nm |
LED 4xx – 光強度測量套筒
Instrument Systems 開發了各種用於測定 LED 平均光強度 ILED-B [cd] 的測量套筒。這些套筒視可用光譜範圍（僅可見或 UV）、測量幾何結構和計畫的應用（實驗室或生產）而異。
測量套筒包含一個形成正好 1 cm² 靈敏探測器表面的漫射器。在漫射器的後面是光纖束，光束通過它耦合到光譜儀中。此設計的特點是高光輸送量和探測器表面足夠的同質性。因此，LED-4xx 系列測量套筒特別適合低光 LED，並用於快速生產測試。
測量應用
LED 4xx 測量套筒可接受 LED 5xx、LED 6xx 和 LED 81x 系列的所有測試夾具。夾緊機構可始終確保 LED 的可重現且精確對準。縮短版測量套筒可用於生產（例如，用於安裝在 LED 處理機上）。
對於需要較高精度的應用，開發了光學探頭 LED 25，用於根據 CIE 127 測定“平均 LED 強度”。後者基於積分球，因此即使光輸送量減少，也會在整個探測器表面提供同質光敏度。
產品種類
| 型號 | 光譜範圍 | 測量幾何 | 結構類型 |
| 用於實驗室應用的測量套筒 （配 LED 測試夾具） | |||
|
LED-436 |
可見光-紅外線 |
CIE ILED-B |
余弦接收器 |
|
LED-437 |
紫外線-可見光-近紅外線 |
||
|
LED25-431 |
紫外線-可見光-近紅外線 |
CIE ILED-B |
積分球 |
| 用於生產線應用的刪減型測量套筒 | |||
|
LED-433 |
可見光-紅外線 |
CIE ILED-B |
余弦接收器 |
|
LED-434-B |
紫外線-可見光-近紅外線 |
||
|
LED-453 |
可見光-紅外線 |
50 mm 測量距離下 0.01 sr |
|
|
LED-454 |
紫外線-可見光-近紅外線 |
||
|
LED-439 |
可相接 LED-43x 和 LED-45x 的擴展型號 |
||
|
LED25-235 |
CIE ILED-B |
積分球 |
|
系統範例
搭載光學探頭
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
