NVIS 顯示屏測量系統

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符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量

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測量應用
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使用夜視設備評估顯示屏兼容性、亮度和背光開關

Instrument Systems 推出的 CAS 140D 陣列光譜儀在全球範圍內取得成功,基於該系列開發了 DTS 140D NVIS 顯示屏測試系統,用於依照 MIL-L-85762A 和 MIL-STD-3009 測試顯示屏和麵板。該測量系統的一個重要部件是 TOP 200 光學探頭,通過該探頭可進行輻射耦合。

 

得益於可靠的陣列光譜儀技術,DTS 140D NVIS 特別適用於需要長期可靠性和簡單操作的生產和質量保證應用。 SpecWin Pro 軟件的通過/不合格測試功能支持實施自動化測量。通過 Windows-DLL 即可進行簡單的集成。

 

關鍵特性:

 

  • 系統經過 MIL-L-85762A/MIL-STD-3009 認證;也經過 MIL-P-7788F 和 SAE ARP5825 認證
  • 特殊濾光片可產生此應用所需的非常高光學動態範圍
  • 優化的普裡查德式光學可保證完美自動定位和記錄測量點
  • 具有寬視場和報告輸出的集成式校準攝像機
  • 方便對讀數進行通過/不合格分析和記錄的 SpecWin Pro 軟體
  • 用於客戶控制的 Windows-DLL 和 LabView 驅動程式

 

夜視設備的測量挑戰


準確識別 380 到 600 nm 左右可見光譜範圍和高達 1000 nm 左右近紅外範圍(NVG 夜視設備的靈敏度範圍)之間的顯著強度差異對於 NVIS 測量至關重要。為此,Instrument Systems 修改了 CAS 140 系列,以進一步減少光譜儀中的雜散光並自動將測量靈敏度調整為不同的強度。 DTS 140 NVIS 隨附證書,證明已通過符合 MIL-L-85762A/MIL-STD-3009 標準的俗稱的 MIL 測試。

系統配置

用於輻射和亮度測量的一體化系統 DTS140D NVIS 通常包含以下部件:

 
部件 描述

光譜儀

光譜範圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。

光學探頭和鏡頭

用於 4 種測量點大小的帶機動孔徑輪的 TOP 200 光學探頭,具有 752 x 480 圖元解析度的集成式校準攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。

校準

光譜輻射和亮度校準,可追溯至國家標準 PTB 或 NIST。包括 MIL 證書。

軟體

SpecWin Pro 實驗室軟體,具有各種功能和特殊 NVIS 評估模組。

雜散光矩陣(可選,不屬於 MIL 測試必需配置)

雜散光矩陣(可選,不屬於 MIL 測試必需配置)

輻照度光學探頭(可選)

用於依據 SAE ARP5825(外部照明 NVIS 友好型)標準進行測量

定位器(可選)

手動或全自動定位器/測角儀,例如 DTS 500

 

 

 

廣泛配件

 

由於可搭配豐富的可選配件,Instrument Systems 的這個高度靈活的系統解決方案非常適合用於顯示幕的開發過程、品質控制和生產。

 

 

客制化系統配置

 

我們的系統專家將很樂意為您的特殊應用提供實用建議。我們提供全球服務,可保證在系統的整個生命週期內提供快速設置和全面支援。敬請垂詢!

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