遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
系統
LEDGON 測角儀系統
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測量應用
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系統配置
測量應用
用於專業測量單個 LED 和小型 LED 模塊的全套裝置
不管是在可見範圍內還是 UV 和 IR 應用中，LED 都已是公認的光源和輻射源。在開發和品質保證中測定這種窄帶半導體照明要求進行嚴格的光譜輻射觀察。而只有借助複雜的測量技術才能做到這一點。
通過 LEDGON 系統，Instrument Systems 開發了一個易於使用的測量系統，非常適合用於全自動測定單個 LED 或小型 LED 模組的所有相關光度參數。除了可見範圍，它的使用範圍還從 UV 中的 200 nm 擴大到 IR 中的 2150 nm。
該系統包含一個遮光 LEDGON 100 測角儀和一個 CAS 系列光譜儀，以及可選電子樣本控制項。這種採用遮光外殼的緊湊型設置允許在暗室外操作，滿足光實驗室應用的常見要求。
關鍵特性：
- 採用遮光外殼的 2 軸機動測角儀
- 高角精度和再現性，高達 0.1º 的角解析度用於整個前半空間的光發射
- CAS 系列高端光譜儀實現的較大準確性和穩定性以及從 UV 到 IR 的計量溯源
- 通過綜合光譜軟體顯示並進一步分析讀數
測量挑戰
對 LED 光源的完整特性測定需要一組廣泛的參數。包括：
- 光譜強度分佈
- 輻射功率
- 顏色屬性
- 發射的空間分佈（輻射分佈）
- 輻射產生的能量效率
所使用的測量技術必須符合高準確性要求並具有可靠穩定性。Instrument Systems 的 LEDGON 系統在各方面都滿足這些要求。因此，它們用於各行各業許多光實驗室中 LED 光源的測定。
系統配置
測量應用
產品
LEDGON 測角儀系統
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 120
適用於廣泛應用的陣列光譜儀
LEDGON 100
用於小型 LED 模塊的不透光配光測角儀
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
光學探頭
用於測量光度量的良好配件
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 120
適用於廣泛應用的陣列光譜儀
LEDGON 100
用於小型 LED 模塊的不透光配光測角儀
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
光學探頭
用於測量光度量的良好配件
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 120
適用於廣泛應用的陣列光譜儀
LEDGON 100
用於小型 LED 模塊的不透光配光測角儀
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
光學探頭
用於測量光度量的良好配件
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
CAS 140D
高精度、快速陣列光譜儀 – 面向高要求測量
CAS 120
適用於廣泛應用的陣列光譜儀
LEDGON 100
用於小型 LED 模塊的不透光配光測角儀
Calaris 校準軟件
用於正確測量輻射
SpecWin Light
用於簡單測量任務的強大軟件
SpecWin Pro
用於獲取並分析光譜測量數據的專業軟件
光譜儀軟件開發工具包
Instrument Systems 光譜儀編程接口
光學探頭
用於測量光度量的良好配件
雜散光校正
用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
