作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。

德國IS光測與GIANT精恩光學將聯手展出各類顯示器、AR/VR 裝置、紅外線感應器及VCSEL 的測量解決方案。 國際全觸與顯示展(C-TOUCH & Display 2023) 將於2023年10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦。同期將結合新型顯示技 術、Mini/Micro LED、AR/VR穿戴電子技術、智慧觸控技術、全像顯示器、智慧座艙及車載顯示器、智慧商顯、5G工業互聯等熱門話題，設置特色展區及50餘場主題高峰論壇與研討會，以及新品發表會集中展示前沿產業動態及發展趨勢。 光學測量儀器領導品牌Instrument Systems與GIANT精恩光學，將亮相2023國際全觸與顯示展，為您介紹最新的高品質顯示器量測技術。擁有豐富的解決方案、尖端技術及多年經驗，Instrument Systems 是您在新型顯示器生產測試、AR/VR 近眼顯示器、MicroLED 晶圓及VCSEL 測量等應用的首選合作夥伴。 歡迎蒞臨我們的攤位：8號展館8E11 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 您需要測量什麼產品？ 顯示器生產測量 一站偵測顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性 AR/VR 測量 近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度檢測及校正 MicroLED 測量 OLED 或MicroLED顯示器的亞像素分析及像素缺陷測試 車載顯示器測量 符合OEM 合規準則要求的車內顯示器及光學元件測量 VCSEL 測量 發射功率、VCSEL 陣列的均勻性、太空輻射特性，以及奈秒脈衝測量     IR/NIR 測量 光譜、功率、LIV 曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量 我們將在現場展示LumiTop 顯示器生產測試系統，LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統，DMS 測量系統等，產品覆蓋Mini/Micro LED、OLED、AR/VR穿戴式電子、智慧觸控、全像顯示器和車載顯示等領域。 歡迎蒞臨我們在C-Touch的展位，以獲得更多資訊！

第四屆深圳Mini/Micro-LED產業鏈創新發展高峰論壇邀請演講： 《晶圓上μLED 和微型顯示器的快速測試》 Mini/Micro LED產業發展如火如荼，隨著Mini/Micro LED 技術不斷突破，Mini LED應用市場正高速成長，Micro LED進入量產元年。第四屆深圳國際Mini/Micro LED產業鏈創新發展高峰論壇(IMCS 2023)將於10月12日於深圳全觸展同期舉辦。 Instrument Systems受主辦單位邀請，資深應用工程師朱天行先生將進行主題演講《晶圓上μLEDs 和微型顯示器的快速測試》，介紹透過軟體在晶圓或顯示器影像中尋找、定位和分析單一發射器的方法，重點是極快的分析演算法，為每一個單一的發射器提供精確的光學計量參數，敬請大家期待！ 時間： 10月12日| 15:30-15:50 地點：深圳國際會展中心(寶安新館) 6/8號館(二層) 會議室 論壇主題：與產業鏈同行-掘金MLED未來 講者：朱天行先生 大會背景： 目前，隨著Micro LED量產元年的到來，MLED產業將迎來爆炸性成長。數據顯示，2022年Mini LED面板出貨超1800萬片，年增88%，到2026年將超3700萬片；2025年可穿戴品牌預計導入Micro LED，2027年Micro LED在可穿戴應用市場出貨可望突破1000萬片，Micro LED在VR/AR市場出貨將達670萬片。為了搶佔第三代顯示技術龐大的市場機遇，各Mini/Micro-LED產業鏈廠商湧入，透過協同創新打通Mini/Micro-LED產業鏈，完善Mini/Micro-LED產業生態，加速了Mini/Micro -LED產業化。 Mini LED背光可改善色域，提高HDR及降低耗能，助推液晶顯示升級，從2019年開始逐步導入電競筆電、高階電視等應用。2021年，蘋果iPad Pro、MacBook Pro引入Mini LED背光之後，Mini LED背光開始全面開花，進一步加速向車載顯示器、平板電腦、筆記型電腦、電視、顯示器以及VR等領域滲透，展現出巨大的發展潛力，是2023年一股強勁的成長力量。 Micro LED集低功耗、高亮度、超高解析度與色彩飽和度、反應速度快、超省電、壽命較長、效率較高等優點於一身，兼具OLED、LCD的顯示技術優勢，同時具有無縫拼接等特點，Micro LED在100吋以上尺寸顯示應用、可穿戴設備、AR等具有良好的發展前景。目前，Micro LED技術點不斷突破，已打通背板、驅動補償、LED晶片、轉移等關鍵技術，產業鏈加速融合，進入量產元年… 朱天行先生，擁有多年光學測試系統的設計與最佳化經驗。目前正專注於光學和AI的結合研究和應用。研究涉及深度學習演算法在光學檢測和影像處理領域的應用。如果您有任何Mini/Micro-LED技術或測量問題，歡迎隨時與我們聯絡~ -INVITATION- Instrument Systems 聯合Giant精恩光學將亮相10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦的2023年國際全觸與顯示展。經驗豐富的光學測量技術人員將在展位 8號館 8E11 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！

作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。

德國IS光測與GIANT精恩光學將聯手展出各類顯示器、AR/VR 裝置、紅外線感應器及VCSEL 的測量解決方案。 國際全觸與顯示展(C-TOUCH & Display 2023) 將於2023年10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦。同期將結合新型顯示技 術、Mini/Micro LED、AR/VR穿戴電子技術、智慧觸控技術、全像顯示器、智慧座艙及車載顯示器、智慧商顯、5G工業互聯等熱門話題，設置特色展區及50餘場主題高峰論壇與研討會，以及新品發表會集中展示前沿產業動態及發展趨勢。 光學測量儀器領導品牌Instrument Systems與GIANT精恩光學，將亮相2023國際全觸與顯示展，為您介紹最新的高品質顯示器量測技術。擁有豐富的解決方案、尖端技術及多年經驗，Instrument Systems 是您在新型顯示器生產測試、AR/VR 近眼顯示器、MicroLED 晶圓及VCSEL 測量等應用的首選合作夥伴。 歡迎蒞臨我們的攤位：8號展館8E11 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 您需要測量什麼產品？ 顯示器生產測量 一站偵測顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性 AR/VR 測量 近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度檢測及校正 MicroLED 測量 OLED 或MicroLED顯示器的亞像素分析及像素缺陷測試 車載顯示器測量 符合OEM 合規準則要求的車內顯示器及光學元件測量 VCSEL 測量 發射功率、VCSEL 陣列的均勻性、太空輻射特性，以及奈秒脈衝測量     IR/NIR 測量 光譜、功率、LIV 曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量 我們將在現場展示LumiTop 顯示器生產測試系統，LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統，DMS 測量系統等，產品覆蓋Mini/Micro LED、OLED、AR/VR穿戴式電子、智慧觸控、全像顯示器和車載顯示等領域。 歡迎蒞臨我們在C-Touch的展位，以獲得更多資訊！

第四屆深圳Mini/Micro-LED產業鏈創新發展高峰論壇邀請演講： 《晶圓上μLED 和微型顯示器的快速測試》 Mini/Micro LED產業發展如火如荼，隨著Mini/Micro LED 技術不斷突破，Mini LED應用市場正高速成長，Micro LED進入量產元年。第四屆深圳國際Mini/Micro LED產業鏈創新發展高峰論壇(IMCS 2023)將於10月12日於深圳全觸展同期舉辦。 Instrument Systems受主辦單位邀請，資深應用工程師朱天行先生將進行主題演講《晶圓上μLEDs 和微型顯示器的快速測試》，介紹透過軟體在晶圓或顯示器影像中尋找、定位和分析單一發射器的方法，重點是極快的分析演算法，為每一個單一的發射器提供精確的光學計量參數，敬請大家期待！ 時間： 10月12日| 15:30-15:50 地點：深圳國際會展中心(寶安新館) 6/8號館(二層) 會議室 論壇主題：與產業鏈同行-掘金MLED未來 講者：朱天行先生 大會背景： 目前，隨著Micro LED量產元年的到來，MLED產業將迎來爆炸性成長。數據顯示，2022年Mini LED面板出貨超1800萬片，年增88%，到2026年將超3700萬片；2025年可穿戴品牌預計導入Micro LED，2027年Micro LED在可穿戴應用市場出貨可望突破1000萬片，Micro LED在VR/AR市場出貨將達670萬片。為了搶佔第三代顯示技術龐大的市場機遇，各Mini/Micro-LED產業鏈廠商湧入，透過協同創新打通Mini/Micro-LED產業鏈，完善Mini/Micro-LED產業生態，加速了Mini/Micro -LED產業化。 Mini LED背光可改善色域，提高HDR及降低耗能，助推液晶顯示升級，從2019年開始逐步導入電競筆電、高階電視等應用。2021年，蘋果iPad Pro、MacBook Pro引入Mini LED背光之後，Mini LED背光開始全面開花，進一步加速向車載顯示器、平板電腦、筆記型電腦、電視、顯示器以及VR等領域滲透，展現出巨大的發展潛力，是2023年一股強勁的成長力量。 Micro LED集低功耗、高亮度、超高解析度與色彩飽和度、反應速度快、超省電、壽命較長、效率較高等優點於一身，兼具OLED、LCD的顯示技術優勢，同時具有無縫拼接等特點，Micro LED在100吋以上尺寸顯示應用、可穿戴設備、AR等具有良好的發展前景。目前，Micro LED技術點不斷突破，已打通背板、驅動補償、LED晶片、轉移等關鍵技術，產業鏈加速融合，進入量產元年… 朱天行先生，擁有多年光學測試系統的設計與最佳化經驗。目前正專注於光學和AI的結合研究和應用。研究涉及深度學習演算法在光學檢測和影像處理領域的應用。如果您有任何Mini/Micro-LED技術或測量問題，歡迎隨時與我們聯絡~ -INVITATION- Instrument Systems 聯合Giant精恩光學將亮相10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦的2023年國際全觸與顯示展。經驗豐富的光學測量技術人員將在展位 8號館 8E11 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！

作為亞洲雷射、光學、光電產業盛會，2024年慕尼黑上海光博會將於3月20-22日在上海新國際博覽中心隆重開幕。光學技術與雷射技術在半導體檢測、晶片製造、新能源汽車製造等領域發揮關鍵作用，極大地推動了國家資訊化建設和經濟發展。 在此盛會上，Instrument Systems將與Giant精恩光學共同參展，在現場為您展示來自德國的前沿測量技術，並根據您的測量需求提供諮詢服務。 我們的展位位於Hall W4 4417，熱切期待您的光臨! Instrument Systems 將會在顯示技術、擴增實境/虛擬實境（AR/VR）以及垂直腔面發射雷射（VCSEL）測量等領域展示一系列成熟且充滿創新的解決方案。在本屆展會上，我們展台的一大亮點是全新一代的大尺寸和曲面顯示器測量解決方案。全自動的7軸DMS 904 測角儀專為大尺寸顯示器的光學特性測試而設計，包括支援跨越整輛車寬度的Pillar-to-Pillar顯示器。   多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 我們的測量應用 顯示器生產測量 LumiTop 4000顯示器系統一站測量顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性。 AR/VR 測量 LumiTop AR/VR 及DMS測角儀系統能偵測及校正近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度等。 MicroLED 測量 LumiTop X150 高解析度影像色度測量系統，適用於OLED 及MicroLED顯示器的次像素分析及像素缺陷測試。 大型車載顯示器測量 DMS 904測角儀7軸聯動，精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、反應時間和Flicker等 VCSEL 測量 VTC及PVT系列VCSEL測量系統可依據國際雷射安全標準IEC60825 進行VCSEL雷射的人眼安全測試，包括遠場、近場及奈秒級的脈衝測量。 IR/NIR 測量 以CAS 140D IR高階光譜儀為核心的紅外線測量系統，可量測紅外線及近紅外線光源的光譜、功率、LIV曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量。 我們期待在2024上海慕尼黑光博會與您相見！

據發現，VCSEL陣列在消費性電子領域有著大量的應用，包括飛行時間（ToF）或3D感測中的結構光源，人臉辨識（FR）、手勢辨識（GR）中的接近照明等等。本研究的重點是對整個VCSEL陣列和其中的每個發射器進行詳細和全面的LIV測試、光譜和波束分析。 \\  對單一發射器進行2D LIV+λ偵測的必要性 對於臉部辨識、3D感測、車內感應、光達和測距等要求嚴格的應用至關重要 調查發射者之間的串擾 並行化測量，減少整體測量時間 LIV曲線是用雷射二極體來確定電氣和光學的工作特性最基本的測量方法。這些曲線建立了閾值電流、坡度效率、翻轉點、是否有任何扭結等。它們被廣泛應用於不同的階段，因為在製造過程的早期識別錯誤的DUTs是至關重要的。 整個VCSEL陣列的LIV特徵   從200 mA到1.8 A測量整個陣列的LI和IV曲線 根據LI曲線計算坡度效率、閾值電流和翻轉電流 在IV曲線中，電壓隨預期的電流的增加大致呈線性增加  整個陣列中所有發射器的LIV特性   在此測量中使用的VCSEL陣列由281個發射器組成 測量了每個發射器的斜坡效率和閾值電流 外部發射器具有較高的坡度效率，但閾值電流較低 內部發射器在這兩個量上都有微小的變化 除了LIV曲線外，我們還測量了不同電流下單一發射器（選擇陣列選擇15個發射器）的光譜，與LIV曲線相似。光譜如下圖所示。每個子圖表示一個發射器，其光譜在不同的電流下以顏色編碼（藍色在400 mA到紅色在1.8 A）。我們觀察到在較高的電流下的頻譜位移，高階模式也隨著電流的增加而出現。 \\  結論 我們擴展了現有的一維LIV測試、光譜和光束分析，延申到覆蓋VCSEL陣列裡的每個單一發射器。這種方法不僅實現測量的平行化，縮短總體測量時間，還提供了研究個別發射器之間相互影響的機會。 VTC 4000：靈活、精確的單發射器分析 我們獨特的測量解決方案，具有從客戶那裡定義良好的要求，允許識別陣列中性能不佳或規格不佳的發射器。我們相信，這種全面的表徵單一發射器是至關重要的要求苛刻的應用。這使得VCSEL製造商能夠確保最終產品的合規性，而不會產生任何包裝成本，並加快製造過程。

\\ 德國Instrument Systems最近發表的LumiTop X20和X30成像色度計，為特殊亮度條件下的顯示器測試提供先進的解決方案。這兩款色度計擁有卓越的性能，包括高解析度（20 MP和31 MP）和廣泛的動態範圍（從mcd/m²到Mcd/m²），特別適用於均勻性測量和錯誤檢測。 LumiTop X20 和LumiTop X30 專為特殊亮度下的顯示器生產測試而設計。經過光譜優化的LumiTop 技術深受客戶信賴，是顯示器品質保證的強大工具。這項技術讓顯示器製造商能夠在廣泛的亮度範圍內進行測試，包括從高亮度的數百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考慮了人眼對於不同亮度的適應性。 現今的顯示器具備先進的亮度功能，可智慧調整亮度以提高使用者體驗並減輕眼睛疲勞。因此，在設計和製造顯示器時，進行準確的亮度和色彩測試尤其關鍵，特別是在低亮度條件下的效能測試。 LumiTopX20和X30成像色度計配備高解析度相機（20MP和31MP）、高精準度電動鏡頭實現的彈性視野角(FOV)，以及廣泛動態範圍，成為理想的測量工具。 除了卓越的設計，LumiTop X20和X30還具備全新的閃爍感測器，適用於1 Hz到1 kHz的頻率範圍。透過LumiTop系列成像色度計，結合高解析度相機、快速光度計、閃爍感測器和CAS高精度光譜儀，Instrument Systems持續引領顯示器測量技術領域，為低亮度和高亮度條件下的顯示器品質提供可靠的保障。   LumiTop 測量解決方案是廣受業界信賴的的顯示器測量標準。若您有任何關於顯示器和Mini/MicroLED測量的問題，歡迎隨時與我們聯絡（[email protected]），從精恩光學光測團隊取得解決方案。

德國IS光測與GIANT精恩光學將聯手展出各類顯示器、AR/VR 裝置、紅外線感應器及VCSEL 的測量解決方案。 國際全觸與顯示展(C-TOUCH & Display 2023) 將於2023年10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦。同期將結合新型顯示技 術、Mini/Micro LED、AR/VR穿戴電子技術、智慧觸控技術、全像顯示器、智慧座艙及車載顯示器、智慧商顯、5G工業互聯等熱門話題，設置特色展區及50餘場主題高峰論壇與研討會，以及新品發表會集中展示前沿產業動態及發展趨勢。 光學測量儀器領導品牌Instrument Systems與GIANT精恩光學，將亮相2023國際全觸與顯示展，為您介紹最新的高品質顯示器量測技術。擁有豐富的解決方案、尖端技術及多年經驗，Instrument Systems 是您在新型顯示器生產測試、AR/VR 近眼顯示器、MicroLED 晶圓及VCSEL 測量等應用的首選合作夥伴。 歡迎蒞臨我們的攤位：8號展館8E11 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並為您的測量需求提供最合適的解決方案。我們熱切期待您的光臨! 您需要測量什麼產品？ 顯示器生產測量 一站偵測顯示器的均勻度、偏色、閃爍、伽瑪值、缺陷偵測(Mura) 等特性 AR/VR 測量 近眼顯示器的均勻性、對比、角度依賴性及色彩保真度檢測及校正 MicroLED 測量 OLED 或MicroLED顯示器的亞像素分析及像素缺陷測試 車載顯示器測量 符合OEM 合規準則要求的車內顯示器及光學元件測量 VCSEL 測量 發射功率、VCSEL 陣列的均勻性、太空輻射特性，以及奈秒脈衝測量     IR/NIR 測量 光譜、功率、LIV 曲線、光學輸出的溫度相關性及角度分辨測量 我們將在現場展示LumiTop 顯示器生產測試系統，LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統，DMS 測量系統等，產品覆蓋Mini/Micro LED、OLED、AR/VR穿戴式電子、智慧觸控、全像顯示器和車載顯示等領域。 歡迎蒞臨我們在C-Touch的展位，以獲得更多資訊！

第四屆深圳Mini/Micro-LED產業鏈創新發展高峰論壇邀請演講： 《晶圓上μLED 和微型顯示器的快速測試》 Mini/Micro LED產業發展如火如荼，隨著Mini/Micro LED 技術不斷突破，Mini LED應用市場正高速成長，Micro LED進入量產元年。第四屆深圳國際Mini/Micro LED產業鏈創新發展高峰論壇(IMCS 2023)將於10月12日於深圳全觸展同期舉辦。 Instrument Systems受主辦單位邀請，資深應用工程師朱天行先生將進行主題演講《晶圓上μLEDs 和微型顯示器的快速測試》，介紹透過軟體在晶圓或顯示器影像中尋找、定位和分析單一發射器的方法，重點是極快的分析演算法，為每一個單一的發射器提供精確的光學計量參數，敬請大家期待！ 時間： 10月12日| 15:30-15:50 地點：深圳國際會展中心(寶安新館) 6/8號館(二層) 會議室 論壇主題：與產業鏈同行-掘金MLED未來 講者：朱天行先生 大會背景： 目前，隨著Micro LED量產元年的到來，MLED產業將迎來爆炸性成長。數據顯示，2022年Mini LED面板出貨超1800萬片，年增88%，到2026年將超3700萬片；2025年可穿戴品牌預計導入Micro LED，2027年Micro LED在可穿戴應用市場出貨可望突破1000萬片，Micro LED在VR/AR市場出貨將達670萬片。為了搶佔第三代顯示技術龐大的市場機遇，各Mini/Micro-LED產業鏈廠商湧入，透過協同創新打通Mini/Micro-LED產業鏈，完善Mini/Micro-LED產業生態，加速了Mini/Micro -LED產業化。 Mini LED背光可改善色域，提高HDR及降低耗能，助推液晶顯示升級，從2019年開始逐步導入電競筆電、高階電視等應用。2021年，蘋果iPad Pro、MacBook Pro引入Mini LED背光之後，Mini LED背光開始全面開花，進一步加速向車載顯示器、平板電腦、筆記型電腦、電視、顯示器以及VR等領域滲透，展現出巨大的發展潛力，是2023年一股強勁的成長力量。 Micro LED集低功耗、高亮度、超高解析度與色彩飽和度、反應速度快、超省電、壽命較長、效率較高等優點於一身，兼具OLED、LCD的顯示技術優勢，同時具有無縫拼接等特點，Micro LED在100吋以上尺寸顯示應用、可穿戴設備、AR等具有良好的發展前景。目前，Micro LED技術點不斷突破，已打通背板、驅動補償、LED晶片、轉移等關鍵技術，產業鏈加速融合，進入量產元年… 朱天行先生，擁有多年光學測試系統的設計與最佳化經驗。目前正專注於光學和AI的結合研究和應用。研究涉及深度學習演算法在光學檢測和影像處理領域的應用。如果您有任何Mini/Micro-LED技術或測量問題，歡迎隨時與我們聯絡~ -INVITATION- Instrument Systems 聯合Giant精恩光學將亮相10月11-13日在深圳國際會展中心(寶安新館) 舉辦的2023年國際全觸與顯示展。經驗豐富的光學測量技術人員將在展位 8號館 8E11 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！