汽車前照燈的良好性能，是確保道路及駕駛安全性的關鍵。道路行駛的環境複雜多變，氣候條件、道路照明、行人密度、前方車輛距離、公路或彎道等，都影響著駕駛者的視野。過去只分近光及遠光的照明模式，無法依據變化多端的行駛條件改變頭燈配光，容易產生照明死角或眩光。 為了提高行車安全與舒適度，近年來，各大汽車製造商紛紛裝備了能主動配合道路環境的自適應前照燈系統（AFS - automotive adaptive forward lighting system）。其中，使用MicroLED陣列的前照燈有發光效率高及配光靈活的優勢，是智能車燈發展的主流之一。 此篇測量應用將探討測量MicroLED車燈陣列的特點，並介紹IS光測系統的測量解決方案。 \\   1. 待測物：MicroLED 汽車車燈陣列 自適應前照燈系統可以根據車輛行駛環境來動態調整光輸出模式。例如在光錐中偵測到對向來車時，自動調暗對其的燈光照射，防止駕駛被眩暈。近期的前照燈採用超過1000個像素的MicroLED陣列作為光源。由於每個像素都可以單獨控制，因此能實現更精細的光束控制（圖1）。這類"數位頭燈"甚至能在道路上實現投影（圖2）。 ▲ 圖1 : 用於AFS 的MicroLED 陣列示意圖。 ▲ 圖2 : 數位光源可在道路上投影。(圖像來源：Mercedes-Benz) \\   2. MicroLED 陣列車燈的測量要求和挑戰 為了精確控制車燈質量，必須能測量單個LED的均勻性、亮度及色彩，並定位陣列中的單顆LED缺陷。 挑戰1：溫度影響測量結果 測量高功率LED的主要難題，是LED通電時會自發熱，進而造成光輸出下降及顏色漂移（圖3）。   ▲ 圖3 : 白光LED通電後亮度（紅色）和色溫（藍色）的典型漂移。 解決此問題，需從以下兩方面著手： 提高測量速度，排除過大的色溫漂移 測量程序與電源同步，在LED通電的瞬間便進行量測。 挑戰2：在高速測量下維持高精度 傳統的單顆LED 逐步測量法，對集成1000 多顆MicroLED 的矩陣來說過度耗時（方法A）。如使用基於攝像機的二維測量系統，則可以同時測量所有LED，測量速度提高許多（方法B）。但此方法需要高水平的測量系統，來達成測量MicroLED 所需的精度。 測量方法 A: 單一測量法， 每顆LED分開測量 B: 二維測量法， LED陣列一次測量完成 系統 光譜儀與積分球， 一次點燃一顆量測 基於攝像機的系統， 通過拍攝一次測量所有LED 優點 高精度測量LED功率和光譜 非常快速地測量LED功率及顏色 缺點 費時 如何實現攝像機採集信息的  高精度是一大挑戰 \\   3. 解決方案：LumiTop – 光譜增強的產品成像色度測量系統 LumiTop 系統解決方案結合上述單一測量法及二維測量法的優點，並克服了高功率LED 的發熱問題。 ▲ 圖4 :  LumiTop 2D 測量系統 LumiTop系統設計 LumiTop 2D 測量系統包含LumiTop 4000 成像色度儀及CAS 140D 高精度光譜儀，兩者通過光纖連接（圖4）。集成分光器的設計，使RGB 相機和光譜儀可以同步量測。如圖5所示，光譜儀從待測物的中心點採集高精度的光譜信息，成像色度儀則同時測量整個LED 陣列，再以光譜信息為參考基準調整參數，從而提高整個二維圖像的測量準確性。 根據修正後的二維測量數據，可有效評估整個LED 陣列的均勻度、亮度和單個LED 的顏色，並精準地找出LED 缺陷（圖6）。LumiTop 測量系統是根據亮度（cd/m2）校準，這也是測量二維發射器發光特性的標準。 ▲ 圖5 : 光譜儀參考點光譜。 ▲ 圖6 :  2D 測量結果：LED 均勻度圖。 避免 LED 發熱問題 傳統的二維攝像機基於彩色濾光片，需要至少三次的連續顏色測量(紅、綠、藍）。此測量方法通常費時數秒，而測量時因為LED 不停發熱，顏色、光強一直處於變化狀態，導致測量結果不准確。 我們研發的LumiTop 系統，可以通過一次拍攝所有的顏色通道，解決LED 的發熱問題。該系統使用RGB 攝像機，並搭載拜爾濾色鏡，能實現毫秒級速度的二維顏色測量。因此，LumiTop系統也適合用於生產製程的在線測試。通過硬件觸發源，LumiTop 可以在LED 通電的同時攝像，在LED發熱前就已完成量測。 高精度的測量結果 除了溫度上的挑戰，LumiTop系統還克服了測量精度上的挑戰。為了達到測量MicroLED陣列要求的精度，LumiTop與光譜輻射計相配合，將攝像機的測量結果校正至精確水平（圖4）。測量系統的校準（Absolute System Calibration）是此解決方案能確保高精度的關鍵：Instrument Systems的每套系統在發貨前，都經過我們ISO 17025 認證測試實驗室的精度驗證。 基於其儀器設計、精度、速度和分辨率，帶100mm鏡頭的LumiTop 4000適合用於實驗室的LED陣列測量或AFS應用的生產在線測試。 如果您需要更多關於MicroLED測量的信息，可隨時與我們聯繫。我們的測量團隊很樂意為您的特殊應用提供實用建議。請聯繫：[email protected]

2023年起， 德國國家認可機構（DAkkS）擴大了Instrument Systems 的認可範圍，使我們能在客戶的LGS, DMS及AMS測角儀安裝場地為DSP系列光度計進行符合ISO 17025標準的測試及調整，並提供測試證書。 此外，3月和4月，我們分別將在德國電子顯示會議(EDC)和中國國際顯示技術會議(ICDT)上，分享關於顯示器檢測和µLED 及微顯示器檢測的最新技術報告。更多細節請參見下文。期待您的參加！ -INVITATION- \\  國際顯示技術會議ICDT邀請演講:  《快速測試晶圓上µLED及微顯示器的方法》 時間：4月2日| 17:10-17:30 (在線直播)  論壇24：Micro-LED 工藝和評估  講者：Dr. Tobias Steinel   精彩內容： MicroLED顯示器具有對比度高、響應時間快速、色域廣泛、低功耗和使用壽命長等特點，因此是備受業界期待的新一代顯示技術。然而，MicroLED技術在光學質量控制方面很具挑戰性，尤其是窄帶MicroLED。在演講中，TobiasSteinel博士將說明如何通過軟件，在晶圓或顯示器圖像上查找、定位及分析單個發射器。以及如何通過高速演算法，為每個發射器提供準確的光學計量參數。  更多信息>>    -INVITATION- \\   EDC 2023:  Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology 在2023年的EDC紐倫堡電子顯示會議上，Instrument Systems將就“全局和滾動快門圖像偽影的特徵及預防”這一主題發表演講。我們的產品經理Andreas Liebel將討論光度計相機的快門類型對圖像偽影的影響，並提出解決方法，以確保在高精度顯示器測試時避免這些偽影。現代的高端顯示器具有動態調節刷新率和脈衝寬度的特性，以節約能源並根據屏幕內容動態調整。這些特點為顯示測試系統提出了新的挑戰，並可能導致圖像偽影的產生。  更多信息>>    -INVITATION- \\  在客戶設備的安裝現場進行符合ISO 17025標準的測試服務 自2023年1月起，Instrument Systems提供其LGS和AMS大型測角儀設備在客戶現場的安裝位置進行ISO 17025合規光強度的測試服務。這樣，即使DSP 200和DSP 10光度計在運行地點進行測試和校準，客戶也可以獲得符合ISO 17025標準的測試證書。   以前，現場測試的認可僅適用於Instrument Systems的DMS顯示測量系統。德國IS光測的客戶現在可以在自己的運行場所對DSP 200和DSP 10光度計進行測試和調整，並獲得符合ISO 17025標準的測試證書。這意味著質量控制和COP測試可以持續進行，而不必中斷操作並將設備拆卸送回原廠。認證的具體範圍請見DAkkS證書。  更多信息>>    -INVITATION- \\   Information Display 雜誌專訪企業故事 在過去的六十年裡，發光器件如發光二極管（LED）經歷了一個激動人心的演變。它們從指示燈和數碼顯示器中微弱的紅光開始，發展到點亮電視屏幕，並成為照明家庭和街道的白光。   從一開始，總部位於慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的發展及其蓬勃發展的應用領域。Instrument Systems成立於1986年，是由Richard Distl在贏得德國青年研究競賽后所創辦。現在則是高精度光譜儀、定制系統和用於光譜光測量的軟件解決方案的領先光學設備製造商...... 採訪內容由Prachi Patel發表在InformationDisplay 1/23。  更多信息>>    我們的測量團隊很樂意就您的特定應用提供專業建議，請隨時向我們諮詢：[email protected]。

德國IS光測的VCSEL測量系統榮獲激光焦點世界創新獎 Instrument Systems(德國IS光測)專為測量VCSEL陣列設計的二維近場分析紅外相機VTC4000，榮獲了Laser Focus World的“激光焦點世界創新獎”。   該相機可以快速、準確地分析窄帶紅外發射器的近場特性，並提供降低偏振相關性所需的信息，減低測試系統誤差。其高精度的測量結果協助提高VCSEL的安全運行及功率效率。結合CAS高分辨率陣列光譜儀，VTC系統還可以測量紅外發射器的單發射器波長，並通過透射屏幕來測量其遠場發射特性。   除了VTC4000，IS光測也提供定制的解決方案，例如脈衝VCSEL測試儀PVT系統，用於在實驗室和生產線上中對VCSEL的光電特性進行表徵及質量控制。 圖：VCSEL陣列二維近場分析系統VTC4000   “VCSEL是具有固有單縱模的組件，通常表現出複雜的偏振特性，”Instrument Systems的關鍵客戶經理Stephanie Grabher表示。“它們發出的光通常沿兩個正交方向之一的線性極化。如果溫度或偏置電流發生變化，可能會觀察到突然的極化切換。由於VCSEL發射的是多種極化狀態，因此無法控制其極化角度。為了充分利用VCSEL 的性能潛力，同時保證安全運行，測量幅值和絕對功率時，也應考慮其極化依賴性。”   圖: 上：受不穩定偏振影響的VCSEL測量結果，下：偏振穩定的VCSEL測量結果   基於其一拍即得的單次成像測量法，VTC4000可以同時測量近場VCSEL陣列中各個發射器的空間偏振，並提供降低測量設置偏振相關性所需的信息。該程序能降低VCSEL測試系統的誤差預算，並為確保激光源的人眼安全性提供了高度準確的測量值。   VTC紅外相機能表徵單個發射器的缺陷、位置、功率和輻射信息。結合CAS光譜儀，還可以測量單發射器波長。而搭配透射屏幕，則可以測量紅外發射器的遠場發射特性。   除此之外，針對在實驗室及產線上對VCSEL光電特性進行表徵和質量控制需求，精恩光學也提供量身定制的解決方案。通過結合業界知名的CAS高分辨率陣列光譜，此系統提供高達0.12nm的光譜分辨率，且由於集成時間短，特別適用於高產量的生產線。脈衝VCSEL測試儀PVT，則是專為實驗室納秒脈衝的時間分辨測量而定制。   若您想了解更多關於VCSEL近場測試的解決方案，歡迎隨時聯繫我們( [email protected])。

\\   ISA-EPIC Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會邀請演講： 《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing) 近年來，Mini/Micro LED不斷取得突破，已成為顯示產業的主要關注點。其“薄膜化，微小化，陣列化、高集成”的優勢，在虛擬現實、智慧車載、裸眼3D、元宇宙等領域的應用方興未艾，人們期待著這一顛覆性技術在泛微顯示、通信、醫療領域有著更多的高階應用。   ISA聯合歐洲光電產業協會(EPIC) 將於2023年7月4日(15:00-18:00 (北京時間) 9:00-12:00 (CEST) ) 召開“Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會”，將有來自全球Mini/Micro LED研究及應用領域的專家演講。   Instrument Systems受主辦方的邀請將在線直播演講《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing)。   時間：7月4日| 17:30-17:50 (在線直播) Zoom會議鏈接：https://us06web.zoom.us/j/82153605604?pwd=dHAzT2NPOGQzLzR6UkwwOHVXdDYvUT09 ID：821 5360 5604 Password：946165 講者：Dr. Tobias Steinel 精彩內容： 即將推出的µLEDs顯示技術具有高對比度、快速響應時間、寬色域、低功耗和長壽命等優點。但是，該技術在光學質量控制方面具有挑戰性，特別是對於窄帶寬µLEDs。   Dr. Tobias Steinel將介紹如何驗證一種軟件方法，以查找、定位和分析晶圓或顯示圖像上的單個發射器。重點是極快的分析算法，為每一個單一的發射器提供光學計量參數。  更多信息>>  -INVITATION- Instrument Systems 聯合精恩光學將參加7月11日在上海國家會展中心舉辦的2023 年慕尼黑上海光博會。多位經驗豐富的光學測量技術人員，將在展位 7.1E301 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！

\\  精恩光學邀您參加2023年慕尼黑上海光博會 2023年慕尼黑上海光博會將於7月11-13日在上海國家會展中心隆重舉辦。   作為亞洲重要的激光、光學、光電行業年度聚會，從基礎研究到產業應用，慕尼黑上海光博會探索行業發展趨勢，集中展示涵蓋激光器與光電子、光學與光學製造、激光生產與加工技術、成像及機器視覺、檢測和質量控制五大版塊的產品內容，是不容錯過的業內展會。 在今年光博會上，Instrument Systems 與精恩光學Giant聯手將攜帶多款產品驚艷亮相，將向您展示前沿的測量解決方案，針對各種顯示屏、AR/VR 裝置、紅外發射器、MicroLED 晶圓及VCSEL 的近場/遠場測量等。   展 商：Instrument Systems & 精恩光學Giant 時 間：2023年7月11-13日 地 點：國家會展中心（上海） 展位號：7.1E301 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並針對您的測量需求提供合適的解決方案。   我們誠摯邀請您蒞臨展位7.1E301 參觀及技術交流，本次展會現場精恩光學驚喜滿滿，準備了精美豐富的禮品，我們期待您的到來！    亮點搶先看 LumiTop X150 – 超高分辨率圖像亮度色度測量儀 LumiTop X150 專門開髮用於高分辨率顯示屏的像素精度分析和校正，能夠提供每顏色通道高達600 MP 的分辨率。通過單像素分析，可以檢查顯示屏各種不同的像素缺陷，如亮度或色差，從而對亮度進行像素準確度校正等。   LumiTop AR/VR – 快速精確的產線測試, 實現完美的用戶沉浸體驗 LumiTop AR/VR 近眼顯示器系統是專門為AR/VR頭戴式裝置中的近眼顯示器(NED) 生產測試而設計。RGB相機一次拍攝頭顯圖像，並以光譜輻射計測量圖像的光譜做為參考值，捕捉高精度的絕對亮度和顏色值，同時測量二維圖像、光譜和閃爍值。 DMS 803 – 應用靈活度非常高的顯示屏光電綜合測量系統 DMS 是精密分析顯示器與角度相關的光電綜合測量系統。可測量顯示屏的亮度、顏色和對比度在不同視角下的分佈。新推出的DMS 904 能夠7軸聯動, 實現高精度的視角、平面及橫向掃描。精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、響應時間和Flicker等。 VTC 4000 – 快速且高精度的VCSEL陣列近場測試 VTC 4000是專門為快速精確2D分析VCSEL陣列而開發，可同時對陣列中各個發射器的所有相關參數進行偏振控制的表徵，適合實驗室和生產環境的測量。應用領域包括VCSEL測試，特別是智能手機的3D傳感(如人臉和物體識別) 和車用領域(如LiDAR系統)。   擁有豐富的解決方案、前沿技術及多年經驗，精恩光學是您在測量AR/VR頭戴式裝置、VCSEL、激光安全、Micro/miniLED、UV-LED，以及各種顯示器生產測試應用的可靠夥伴。   如果您有任何關於光學測量的問題，請隨時和我們聯繫([email protected])，精恩光學團隊很樂意為你定制合適的測量解決方案。

\\  新型車載大型顯示屏的測量需求 近年來，隨著汽車科技的飛速發展，車載大型曲面顯示屏的應用逐漸成為汽車行業的關注焦點。這些令人印象深刻的高清顯示屏被廣泛應用於車輛的儀錶盤、中控及娛樂系統，為駕駛者及乘客提供了更加豐富、安全的沉浸式出行體驗。 隨著消費者對智能互聯功能和可視化信息的需求不斷增加，市場對車載大型曲面顯示器的需求也逐漸上升。 為了滿足市場的測試需求，德國Instrument Systems推出了全新的DMS 904光電綜合測試系統，專為測量車載大尺寸曲面顯示屏而量身打造。 DMS 904光電綜合測試系統共配備了七個電動軸，可以實現自動測量，並且還集成了電動顯微鏡光圈和內建取景相機，使得測量更加準確和便捷。此外，額外的X軸為設備提供了更大的靈活性，進而為實現多聯屏的測量提供了必要條件，使得量測寬度在1.8 m以下的顯示屏得以實現。 \\   DMS 904 的優勢：超大溫控箱和豐富的環境光照明配件 溫控下的車載屏測量一直是一個必不可少的項目。為此，DMS 904 光電綜合測試系統配備了新推出的超大溫控箱HCS-7。它的尺寸達到了160 x 60 x 20 cm，使得大尺寸曲面屏得以整體置於其內部，配合探測頭在X軸和Z軸上能夠自由移動，從而實現溫度控制下的多種標準高測量。 除此以外，通過溫控箱的特殊材質，使得箱體內的溫度能夠在短時間內從-40°C至+105°C達到指定溫度，並且能夠穩定地保持在指定的溫度範圍內。這些功能為在不同溫度條件下進行顯示器光電特性測量的準確性和可靠性提供了強有力的保障。 除了用於不同溫度下的測量，DMS 904 測試系統還可以分析不同環境光對顯示屏性能的影響。DMS 配備了豐富的照明配件，包括半球面、漫反射照明和點光源等，適用於不同的應用場景。 通過這些配件，可以測量光譜反射率以及在不同環境光條件下的對比度，幫助用戶深入了解顯示屏在不同環境中的表現。 DMS 904 大型綜合光電測試系統通過其豐富的功能和配件，為全球用戶提供可靠的顯示屏測量系統，並滿足汽車行業對於車載大型曲面顯示器的應用需求。 如果您對於顯示屏測量或車載大型曲面顯示器的測量應用有任何問題，請隨時與我們聯繫。我們的應用工程師將樂意為您提供量身打造的解決方案，並幫助您解決相關的技術挑戰。期待為您提供優質的服務和支持！

汽車前照燈的良好性能，是確保道路及駕駛安全性的關鍵。道路行駛的環境複雜多變，氣候條件、道路照明、行人密度、前方車輛距離、公路或彎道等，都影響著駕駛者的視野。過去只分近光及遠光的照明模式，無法依據變化多端的行駛條件改變頭燈配光，容易產生照明死角或眩光。 為了提高行車安全與舒適度，近年來，各大汽車製造商紛紛裝備了能主動配合道路環境的自適應前照燈系統（AFS - automotive adaptive forward lighting system）。其中，使用MicroLED陣列的前照燈有發光效率高及配光靈活的優勢，是智能車燈發展的主流之一。 此篇測量應用將探討測量MicroLED車燈陣列的特點，並介紹IS光測系統的測量解決方案。 \\   1. 待測物：MicroLED 汽車車燈陣列 自適應前照燈系統可以根據車輛行駛環境來動態調整光輸出模式。例如在光錐中偵測到對向來車時，自動調暗對其的燈光照射，防止駕駛被眩暈。近期的前照燈採用超過1000個像素的MicroLED陣列作為光源。由於每個像素都可以單獨控制，因此能實現更精細的光束控制（圖1）。這類"數位頭燈"甚至能在道路上實現投影（圖2）。 ▲ 圖1 : 用於AFS 的MicroLED 陣列示意圖。 ▲ 圖2 : 數位光源可在道路上投影。(圖像來源：Mercedes-Benz) \\   2. MicroLED 陣列車燈的測量要求和挑戰 為了精確控制車燈質量，必須能測量單個LED的均勻性、亮度及色彩，並定位陣列中的單顆LED缺陷。 挑戰1：溫度影響測量結果 測量高功率LED的主要難題，是LED通電時會自發熱，進而造成光輸出下降及顏色漂移（圖3）。   ▲ 圖3 : 白光LED通電後亮度（紅色）和色溫（藍色）的典型漂移。 解決此問題，需從以下兩方面著手： 提高測量速度，排除過大的色溫漂移 測量程序與電源同步，在LED通電的瞬間便進行量測。 挑戰2：在高速測量下維持高精度 傳統的單顆LED 逐步測量法，對集成1000 多顆MicroLED 的矩陣來說過度耗時（方法A）。如使用基於攝像機的二維測量系統，則可以同時測量所有LED，測量速度提高許多（方法B）。但此方法需要高水平的測量系統，來達成測量MicroLED 所需的精度。 測量方法 A: 單一測量法， 每顆LED分開測量 B: 二維測量法， LED陣列一次測量完成 系統 光譜儀與積分球， 一次點燃一顆量測 基於攝像機的系統， 通過拍攝一次測量所有LED 優點 高精度測量LED功率和光譜 非常快速地測量LED功率及顏色 缺點 費時 如何實現攝像機採集信息的  高精度是一大挑戰 \\   3. 解決方案：LumiTop – 光譜增強的產品成像色度測量系統 LumiTop 系統解決方案結合上述單一測量法及二維測量法的優點，並克服了高功率LED 的發熱問題。 ▲ 圖4 :  LumiTop 2D 測量系統 LumiTop系統設計 LumiTop 2D 測量系統包含LumiTop 4000 成像色度儀及CAS 140D 高精度光譜儀，兩者通過光纖連接（圖4）。集成分光器的設計，使RGB 相機和光譜儀可以同步量測。如圖5所示，光譜儀從待測物的中心點採集高精度的光譜信息，成像色度儀則同時測量整個LED 陣列，再以光譜信息為參考基準調整參數，從而提高整個二維圖像的測量準確性。 根據修正後的二維測量數據，可有效評估整個LED 陣列的均勻度、亮度和單個LED 的顏色，並精準地找出LED 缺陷（圖6）。LumiTop 測量系統是根據亮度（cd/m2）校準，這也是測量二維發射器發光特性的標準。 ▲ 圖5 : 光譜儀參考點光譜。 ▲ 圖6 :  2D 測量結果：LED 均勻度圖。 避免 LED 發熱問題 傳統的二維攝像機基於彩色濾光片，需要至少三次的連續顏色測量(紅、綠、藍）。此測量方法通常費時數秒，而測量時因為LED 不停發熱，顏色、光強一直處於變化狀態，導致測量結果不准確。 我們研發的LumiTop 系統，可以通過一次拍攝所有的顏色通道，解決LED 的發熱問題。該系統使用RGB 攝像機，並搭載拜爾濾色鏡，能實現毫秒級速度的二維顏色測量。因此，LumiTop系統也適合用於生產製程的在線測試。通過硬件觸發源，LumiTop 可以在LED 通電的同時攝像，在LED發熱前就已完成量測。 高精度的測量結果 除了溫度上的挑戰，LumiTop系統還克服了測量精度上的挑戰。為了達到測量MicroLED陣列要求的精度，LumiTop與光譜輻射計相配合，將攝像機的測量結果校正至精確水平（圖4）。測量系統的校準（Absolute System Calibration）是此解決方案能確保高精度的關鍵：Instrument Systems的每套系統在發貨前，都經過我們ISO 17025 認證測試實驗室的精度驗證。 基於其儀器設計、精度、速度和分辨率，帶100mm鏡頭的LumiTop 4000適合用於實驗室的LED陣列測量或AFS應用的生產在線測試。 如果您需要更多關於MicroLED測量的信息，可隨時與我們聯繫。我們的測量團隊很樂意為您的特殊應用提供實用建議。請聯繫：[email protected]

2023年起， 德國國家認可機構（DAkkS）擴大了Instrument Systems 的認可範圍，使我們能在客戶的LGS, DMS及AMS測角儀安裝場地為DSP系列光度計進行符合ISO 17025標準的測試及調整，並提供測試證書。 此外，3月和4月，我們分別將在德國電子顯示會議(EDC)和中國國際顯示技術會議(ICDT)上，分享關於顯示器檢測和µLED 及微顯示器檢測的最新技術報告。更多細節請參見下文。期待您的參加！ -INVITATION- \\  國際顯示技術會議ICDT邀請演講:  《快速測試晶圓上µLED及微顯示器的方法》 時間：4月2日| 17:10-17:30 (在線直播)  論壇24：Micro-LED 工藝和評估  講者：Dr. Tobias Steinel   精彩內容： MicroLED顯示器具有對比度高、響應時間快速、色域廣泛、低功耗和使用壽命長等特點，因此是備受業界期待的新一代顯示技術。然而，MicroLED技術在光學質量控制方面很具挑戰性，尤其是窄帶MicroLED。在演講中，TobiasSteinel博士將說明如何通過軟件，在晶圓或顯示器圖像上查找、定位及分析單個發射器。以及如何通過高速演算法，為每個發射器提供準確的光學計量參數。  更多信息>>    -INVITATION- \\   EDC 2023:  Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology 在2023年的EDC紐倫堡電子顯示會議上，Instrument Systems將就“全局和滾動快門圖像偽影的特徵及預防”這一主題發表演講。我們的產品經理Andreas Liebel將討論光度計相機的快門類型對圖像偽影的影響，並提出解決方法，以確保在高精度顯示器測試時避免這些偽影。現代的高端顯示器具有動態調節刷新率和脈衝寬度的特性，以節約能源並根據屏幕內容動態調整。這些特點為顯示測試系統提出了新的挑戰，並可能導致圖像偽影的產生。  更多信息>>    -INVITATION- \\  在客戶設備的安裝現場進行符合ISO 17025標準的測試服務 自2023年1月起，Instrument Systems提供其LGS和AMS大型測角儀設備在客戶現場的安裝位置進行ISO 17025合規光強度的測試服務。這樣，即使DSP 200和DSP 10光度計在運行地點進行測試和校準，客戶也可以獲得符合ISO 17025標準的測試證書。   以前，現場測試的認可僅適用於Instrument Systems的DMS顯示測量系統。德國IS光測的客戶現在可以在自己的運行場所對DSP 200和DSP 10光度計進行測試和調整，並獲得符合ISO 17025標準的測試證書。這意味著質量控制和COP測試可以持續進行，而不必中斷操作並將設備拆卸送回原廠。認證的具體範圍請見DAkkS證書。  更多信息>>    -INVITATION- \\   Information Display 雜誌專訪企業故事 在過去的六十年裡，發光器件如發光二極管（LED）經歷了一個激動人心的演變。它們從指示燈和數碼顯示器中微弱的紅光開始，發展到點亮電視屏幕，並成為照明家庭和街道的白光。   從一開始，總部位於慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的發展及其蓬勃發展的應用領域。Instrument Systems成立於1986年，是由Richard Distl在贏得德國青年研究競賽后所創辦。現在則是高精度光譜儀、定制系統和用於光譜光測量的軟件解決方案的領先光學設備製造商...... 採訪內容由Prachi Patel發表在InformationDisplay 1/23。  更多信息>>    我們的測量團隊很樂意就您的特定應用提供專業建議，請隨時向我們諮詢：[email protected]。

德國IS光測的VCSEL測量系統榮獲激光焦點世界創新獎 Instrument Systems(德國IS光測)專為測量VCSEL陣列設計的二維近場分析紅外相機VTC4000，榮獲了Laser Focus World的“激光焦點世界創新獎”。   該相機可以快速、準確地分析窄帶紅外發射器的近場特性，並提供降低偏振相關性所需的信息，減低測試系統誤差。其高精度的測量結果協助提高VCSEL的安全運行及功率效率。結合CAS高分辨率陣列光譜儀，VTC系統還可以測量紅外發射器的單發射器波長，並通過透射屏幕來測量其遠場發射特性。   除了VTC4000，IS光測也提供定制的解決方案，例如脈衝VCSEL測試儀PVT系統，用於在實驗室和生產線上中對VCSEL的光電特性進行表徵及質量控制。 圖：VCSEL陣列二維近場分析系統VTC4000   “VCSEL是具有固有單縱模的組件，通常表現出複雜的偏振特性，”Instrument Systems的關鍵客戶經理Stephanie Grabher表示。“它們發出的光通常沿兩個正交方向之一的線性極化。如果溫度或偏置電流發生變化，可能會觀察到突然的極化切換。由於VCSEL發射的是多種極化狀態，因此無法控制其極化角度。為了充分利用VCSEL 的性能潛力，同時保證安全運行，測量幅值和絕對功率時，也應考慮其極化依賴性。”   圖: 上：受不穩定偏振影響的VCSEL測量結果，下：偏振穩定的VCSEL測量結果   基於其一拍即得的單次成像測量法，VTC4000可以同時測量近場VCSEL陣列中各個發射器的空間偏振，並提供降低測量設置偏振相關性所需的信息。該程序能降低VCSEL測試系統的誤差預算，並為確保激光源的人眼安全性提供了高度準確的測量值。   VTC紅外相機能表徵單個發射器的缺陷、位置、功率和輻射信息。結合CAS光譜儀，還可以測量單發射器波長。而搭配透射屏幕，則可以測量紅外發射器的遠場發射特性。   除此之外，針對在實驗室及產線上對VCSEL光電特性進行表徵和質量控制需求，精恩光學也提供量身定制的解決方案。通過結合業界知名的CAS高分辨率陣列光譜，此系統提供高達0.12nm的光譜分辨率，且由於集成時間短，特別適用於高產量的生產線。脈衝VCSEL測試儀PVT，則是專為實驗室納秒脈衝的時間分辨測量而定制。   若您想了解更多關於VCSEL近場測試的解決方案，歡迎隨時聯繫我們( [email protected])。

\\   ISA-EPIC Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會邀請演講： 《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing) 近年來，Mini/Micro LED不斷取得突破，已成為顯示產業的主要關注點。其“薄膜化，微小化，陣列化、高集成”的優勢，在虛擬現實、智慧車載、裸眼3D、元宇宙等領域的應用方興未艾，人們期待著這一顛覆性技術在泛微顯示、通信、醫療領域有著更多的高階應用。   ISA聯合歐洲光電產業協會(EPIC) 將於2023年7月4日(15:00-18:00 (北京時間) 9:00-12:00 (CEST) ) 召開“Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會”，將有來自全球Mini/Micro LED研究及應用領域的專家演講。   Instrument Systems受主辦方的邀請將在線直播演講《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing)。   時間：7月4日| 17:30-17:50 (在線直播) Zoom會議鏈接：https://us06web.zoom.us/j/82153605604?pwd=dHAzT2NPOGQzLzR6UkwwOHVXdDYvUT09 ID：821 5360 5604 Password：946165 講者：Dr. Tobias Steinel 精彩內容： 即將推出的µLEDs顯示技術具有高對比度、快速響應時間、寬色域、低功耗和長壽命等優點。但是，該技術在光學質量控制方面具有挑戰性，特別是對於窄帶寬µLEDs。   Dr. Tobias Steinel將介紹如何驗證一種軟件方法，以查找、定位和分析晶圓或顯示圖像上的單個發射器。重點是極快的分析算法，為每一個單一的發射器提供光學計量參數。  更多信息>>  -INVITATION- Instrument Systems 聯合精恩光學將參加7月11日在上海國家會展中心舉辦的2023 年慕尼黑上海光博會。多位經驗豐富的光學測量技術人員，將在展位 7.1E301 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！

\\  精恩光學邀您參加2023年慕尼黑上海光博會 2023年慕尼黑上海光博會將於7月11-13日在上海國家會展中心隆重舉辦。   作為亞洲重要的激光、光學、光電行業年度聚會，從基礎研究到產業應用，慕尼黑上海光博會探索行業發展趨勢，集中展示涵蓋激光器與光電子、光學與光學製造、激光生產與加工技術、成像及機器視覺、檢測和質量控制五大版塊的產品內容，是不容錯過的業內展會。 在今年光博會上，Instrument Systems 與精恩光學Giant聯手將攜帶多款產品驚艷亮相，將向您展示前沿的測量解決方案，針對各種顯示屏、AR/VR 裝置、紅外發射器、MicroLED 晶圓及VCSEL 的近場/遠場測量等。   展 商：Instrument Systems & 精恩光學Giant 時 間：2023年7月11-13日 地 點：國家會展中心（上海） 展位號：7.1E301 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並針對您的測量需求提供合適的解決方案。   我們誠摯邀請您蒞臨展位7.1E301 參觀及技術交流，本次展會現場精恩光學驚喜滿滿，準備了精美豐富的禮品，我們期待您的到來！    亮點搶先看 LumiTop X150 – 超高分辨率圖像亮度色度測量儀 LumiTop X150 專門開髮用於高分辨率顯示屏的像素精度分析和校正，能夠提供每顏色通道高達600 MP 的分辨率。通過單像素分析，可以檢查顯示屏各種不同的像素缺陷，如亮度或色差，從而對亮度進行像素準確度校正等。   LumiTop AR/VR – 快速精確的產線測試, 實現完美的用戶沉浸體驗 LumiTop AR/VR 近眼顯示器系統是專門為AR/VR頭戴式裝置中的近眼顯示器(NED) 生產測試而設計。RGB相機一次拍攝頭顯圖像，並以光譜輻射計測量圖像的光譜做為參考值，捕捉高精度的絕對亮度和顏色值，同時測量二維圖像、光譜和閃爍值。 DMS 803 – 應用靈活度非常高的顯示屏光電綜合測量系統 DMS 是精密分析顯示器與角度相關的光電綜合測量系統。可測量顯示屏的亮度、顏色和對比度在不同視角下的分佈。新推出的DMS 904 能夠7軸聯動, 實現高精度的視角、平面及橫向掃描。精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、響應時間和Flicker等。 VTC 4000 – 快速且高精度的VCSEL陣列近場測試 VTC 4000是專門為快速精確2D分析VCSEL陣列而開發，可同時對陣列中各個發射器的所有相關參數進行偏振控制的表徵，適合實驗室和生產環境的測量。應用領域包括VCSEL測試，特別是智能手機的3D傳感(如人臉和物體識別) 和車用領域(如LiDAR系統)。   擁有豐富的解決方案、前沿技術及多年經驗，精恩光學是您在測量AR/VR頭戴式裝置、VCSEL、激光安全、Micro/miniLED、UV-LED，以及各種顯示器生產測試應用的可靠夥伴。   如果您有任何關於光學測量的問題，請隨時和我們聯繫([email protected])，精恩光學團隊很樂意為你定制合適的測量解決方案。

\\  新型車載大型顯示屏的測量需求 近年來，隨著汽車科技的飛速發展，車載大型曲面顯示屏的應用逐漸成為汽車行業的關注焦點。這些令人印象深刻的高清顯示屏被廣泛應用於車輛的儀錶盤、中控及娛樂系統，為駕駛者及乘客提供了更加豐富、安全的沉浸式出行體驗。 隨著消費者對智能互聯功能和可視化信息的需求不斷增加，市場對車載大型曲面顯示器的需求也逐漸上升。 為了滿足市場的測試需求，德國Instrument Systems推出了全新的DMS 904光電綜合測試系統，專為測量車載大尺寸曲面顯示屏而量身打造。 DMS 904光電綜合測試系統共配備了七個電動軸，可以實現自動測量，並且還集成了電動顯微鏡光圈和內建取景相機，使得測量更加準確和便捷。此外，額外的X軸為設備提供了更大的靈活性，進而為實現多聯屏的測量提供了必要條件，使得量測寬度在1.8 m以下的顯示屏得以實現。 \\   DMS 904 的優勢：超大溫控箱和豐富的環境光照明配件 溫控下的車載屏測量一直是一個必不可少的項目。為此，DMS 904 光電綜合測試系統配備了新推出的超大溫控箱HCS-7。它的尺寸達到了160 x 60 x 20 cm，使得大尺寸曲面屏得以整體置於其內部，配合探測頭在X軸和Z軸上能夠自由移動，從而實現溫度控制下的多種標準高測量。 除此以外，通過溫控箱的特殊材質，使得箱體內的溫度能夠在短時間內從-40°C至+105°C達到指定溫度，並且能夠穩定地保持在指定的溫度範圍內。這些功能為在不同溫度條件下進行顯示器光電特性測量的準確性和可靠性提供了強有力的保障。 除了用於不同溫度下的測量，DMS 904 測試系統還可以分析不同環境光對顯示屏性能的影響。DMS 配備了豐富的照明配件，包括半球面、漫反射照明和點光源等，適用於不同的應用場景。 通過這些配件，可以測量光譜反射率以及在不同環境光條件下的對比度，幫助用戶深入了解顯示屏在不同環境中的表現。 DMS 904 大型綜合光電測試系統通過其豐富的功能和配件，為全球用戶提供可靠的顯示屏測量系統，並滿足汽車行業對於車載大型曲面顯示器的應用需求。 如果您對於顯示屏測量或車載大型曲面顯示器的測量應用有任何問題，請隨時與我們聯繫。我們的應用工程師將樂意為您提供量身打造的解決方案，並幫助您解決相關的技術挑戰。期待為您提供優質的服務和支持！

汽車前照燈的良好性能，是確保道路及駕駛安全性的關鍵。道路行駛的環境複雜多變，氣候條件、道路照明、行人密度、前方車輛距離、公路或彎道等，都影響著駕駛者的視野。過去只分近光及遠光的照明模式，無法依據變化多端的行駛條件改變頭燈配光，容易產生照明死角或眩光。 為了提高行車安全與舒適度，近年來，各大汽車製造商紛紛裝備了能主動配合道路環境的自適應前照燈系統（AFS - automotive adaptive forward lighting system）。其中，使用MicroLED陣列的前照燈有發光效率高及配光靈活的優勢，是智能車燈發展的主流之一。 此篇測量應用將探討測量MicroLED車燈陣列的特點，並介紹IS光測系統的測量解決方案。 \\   1. 待測物：MicroLED 汽車車燈陣列 自適應前照燈系統可以根據車輛行駛環境來動態調整光輸出模式。例如在光錐中偵測到對向來車時，自動調暗對其的燈光照射，防止駕駛被眩暈。近期的前照燈採用超過1000個像素的MicroLED陣列作為光源。由於每個像素都可以單獨控制，因此能實現更精細的光束控制（圖1）。這類"數位頭燈"甚至能在道路上實現投影（圖2）。 ▲ 圖1 : 用於AFS 的MicroLED 陣列示意圖。 ▲ 圖2 : 數位光源可在道路上投影。(圖像來源：Mercedes-Benz) \\   2. MicroLED 陣列車燈的測量要求和挑戰 為了精確控制車燈質量，必須能測量單個LED的均勻性、亮度及色彩，並定位陣列中的單顆LED缺陷。 挑戰1：溫度影響測量結果 測量高功率LED的主要難題，是LED通電時會自發熱，進而造成光輸出下降及顏色漂移（圖3）。   ▲ 圖3 : 白光LED通電後亮度（紅色）和色溫（藍色）的典型漂移。 解決此問題，需從以下兩方面著手： 提高測量速度，排除過大的色溫漂移 測量程序與電源同步，在LED通電的瞬間便進行量測。 挑戰2：在高速測量下維持高精度 傳統的單顆LED 逐步測量法，對集成1000 多顆MicroLED 的矩陣來說過度耗時（方法A）。如使用基於攝像機的二維測量系統，則可以同時測量所有LED，測量速度提高許多（方法B）。但此方法需要高水平的測量系統，來達成測量MicroLED 所需的精度。 測量方法 A: 單一測量法， 每顆LED分開測量 B: 二維測量法， LED陣列一次測量完成 系統 光譜儀與積分球， 一次點燃一顆量測 基於攝像機的系統， 通過拍攝一次測量所有LED 優點 高精度測量LED功率和光譜 非常快速地測量LED功率及顏色 缺點 費時 如何實現攝像機採集信息的  高精度是一大挑戰 \\   3. 解決方案：LumiTop – 光譜增強的產品成像色度測量系統 LumiTop 系統解決方案結合上述單一測量法及二維測量法的優點，並克服了高功率LED 的發熱問題。 ▲ 圖4 :  LumiTop 2D 測量系統 LumiTop系統設計 LumiTop 2D 測量系統包含LumiTop 4000 成像色度儀及CAS 140D 高精度光譜儀，兩者通過光纖連接（圖4）。集成分光器的設計，使RGB 相機和光譜儀可以同步量測。如圖5所示，光譜儀從待測物的中心點採集高精度的光譜信息，成像色度儀則同時測量整個LED 陣列，再以光譜信息為參考基準調整參數，從而提高整個二維圖像的測量準確性。 根據修正後的二維測量數據，可有效評估整個LED 陣列的均勻度、亮度和單個LED 的顏色，並精準地找出LED 缺陷（圖6）。LumiTop 測量系統是根據亮度（cd/m2）校準，這也是測量二維發射器發光特性的標準。 ▲ 圖5 : 光譜儀參考點光譜。 ▲ 圖6 :  2D 測量結果：LED 均勻度圖。 避免 LED 發熱問題 傳統的二維攝像機基於彩色濾光片，需要至少三次的連續顏色測量(紅、綠、藍）。此測量方法通常費時數秒，而測量時因為LED 不停發熱，顏色、光強一直處於變化狀態，導致測量結果不准確。 我們研發的LumiTop 系統，可以通過一次拍攝所有的顏色通道，解決LED 的發熱問題。該系統使用RGB 攝像機，並搭載拜爾濾色鏡，能實現毫秒級速度的二維顏色測量。因此，LumiTop系統也適合用於生產製程的在線測試。通過硬件觸發源，LumiTop 可以在LED 通電的同時攝像，在LED發熱前就已完成量測。 高精度的測量結果 除了溫度上的挑戰，LumiTop系統還克服了測量精度上的挑戰。為了達到測量MicroLED陣列要求的精度，LumiTop與光譜輻射計相配合，將攝像機的測量結果校正至精確水平（圖4）。測量系統的校準（Absolute System Calibration）是此解決方案能確保高精度的關鍵：Instrument Systems的每套系統在發貨前，都經過我們ISO 17025 認證測試實驗室的精度驗證。 基於其儀器設計、精度、速度和分辨率，帶100mm鏡頭的LumiTop 4000適合用於實驗室的LED陣列測量或AFS應用的生產在線測試。 如果您需要更多關於MicroLED測量的信息，可隨時與我們聯繫。我們的測量團隊很樂意為您的特殊應用提供實用建議。請聯繫：[email protected]

2023年起， 德國國家認可機構（DAkkS）擴大了Instrument Systems 的認可範圍，使我們能在客戶的LGS, DMS及AMS測角儀安裝場地為DSP系列光度計進行符合ISO 17025標準的測試及調整，並提供測試證書。 此外，3月和4月，我們分別將在德國電子顯示會議(EDC)和中國國際顯示技術會議(ICDT)上，分享關於顯示器檢測和µLED 及微顯示器檢測的最新技術報告。更多細節請參見下文。期待您的參加！ -INVITATION- \\  國際顯示技術會議ICDT邀請演講:  《快速測試晶圓上µLED及微顯示器的方法》 時間：4月2日| 17:10-17:30 (在線直播)  論壇24：Micro-LED 工藝和評估  講者：Dr. Tobias Steinel   精彩內容： MicroLED顯示器具有對比度高、響應時間快速、色域廣泛、低功耗和使用壽命長等特點，因此是備受業界期待的新一代顯示技術。然而，MicroLED技術在光學質量控制方面很具挑戰性，尤其是窄帶MicroLED。在演講中，TobiasSteinel博士將說明如何通過軟件，在晶圓或顯示器圖像上查找、定位及分析單個發射器。以及如何通過高速演算法，為每個發射器提供準確的光學計量參數。  更多信息>>    -INVITATION- \\   EDC 2023:  Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology 在2023年的EDC紐倫堡電子顯示會議上，Instrument Systems將就“全局和滾動快門圖像偽影的特徵及預防”這一主題發表演講。我們的產品經理Andreas Liebel將討論光度計相機的快門類型對圖像偽影的影響，並提出解決方法，以確保在高精度顯示器測試時避免這些偽影。現代的高端顯示器具有動態調節刷新率和脈衝寬度的特性，以節約能源並根據屏幕內容動態調整。這些特點為顯示測試系統提出了新的挑戰，並可能導致圖像偽影的產生。  更多信息>>    -INVITATION- \\  在客戶設備的安裝現場進行符合ISO 17025標準的測試服務 自2023年1月起，Instrument Systems提供其LGS和AMS大型測角儀設備在客戶現場的安裝位置進行ISO 17025合規光強度的測試服務。這樣，即使DSP 200和DSP 10光度計在運行地點進行測試和校準，客戶也可以獲得符合ISO 17025標準的測試證書。   以前，現場測試的認可僅適用於Instrument Systems的DMS顯示測量系統。德國IS光測的客戶現在可以在自己的運行場所對DSP 200和DSP 10光度計進行測試和調整，並獲得符合ISO 17025標準的測試證書。這意味著質量控制和COP測試可以持續進行，而不必中斷操作並將設備拆卸送回原廠。認證的具體範圍請見DAkkS證書。  更多信息>>    -INVITATION- \\   Information Display 雜誌專訪企業故事 在過去的六十年裡，發光器件如發光二極管（LED）經歷了一個激動人心的演變。它們從指示燈和數碼顯示器中微弱的紅光開始，發展到點亮電視屏幕，並成為照明家庭和街道的白光。   從一開始，總部位於慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的發展及其蓬勃發展的應用領域。Instrument Systems成立於1986年，是由Richard Distl在贏得德國青年研究競賽后所創辦。現在則是高精度光譜儀、定制系統和用於光譜光測量的軟件解決方案的領先光學設備製造商...... 採訪內容由Prachi Patel發表在InformationDisplay 1/23。  更多信息>>    我們的測量團隊很樂意就您的特定應用提供專業建議，請隨時向我們諮詢：[email protected]。

德國IS光測的VCSEL測量系統榮獲激光焦點世界創新獎 Instrument Systems(德國IS光測)專為測量VCSEL陣列設計的二維近場分析紅外相機VTC4000，榮獲了Laser Focus World的“激光焦點世界創新獎”。   該相機可以快速、準確地分析窄帶紅外發射器的近場特性，並提供降低偏振相關性所需的信息，減低測試系統誤差。其高精度的測量結果協助提高VCSEL的安全運行及功率效率。結合CAS高分辨率陣列光譜儀，VTC系統還可以測量紅外發射器的單發射器波長，並通過透射屏幕來測量其遠場發射特性。   除了VTC4000，IS光測也提供定制的解決方案，例如脈衝VCSEL測試儀PVT系統，用於在實驗室和生產線上中對VCSEL的光電特性進行表徵及質量控制。 圖：VCSEL陣列二維近場分析系統VTC4000   “VCSEL是具有固有單縱模的組件，通常表現出複雜的偏振特性，”Instrument Systems的關鍵客戶經理Stephanie Grabher表示。“它們發出的光通常沿兩個正交方向之一的線性極化。如果溫度或偏置電流發生變化，可能會觀察到突然的極化切換。由於VCSEL發射的是多種極化狀態，因此無法控制其極化角度。為了充分利用VCSEL 的性能潛力，同時保證安全運行，測量幅值和絕對功率時，也應考慮其極化依賴性。”   圖: 上：受不穩定偏振影響的VCSEL測量結果，下：偏振穩定的VCSEL測量結果   基於其一拍即得的單次成像測量法，VTC4000可以同時測量近場VCSEL陣列中各個發射器的空間偏振，並提供降低測量設置偏振相關性所需的信息。該程序能降低VCSEL測試系統的誤差預算，並為確保激光源的人眼安全性提供了高度準確的測量值。   VTC紅外相機能表徵單個發射器的缺陷、位置、功率和輻射信息。結合CAS光譜儀，還可以測量單發射器波長。而搭配透射屏幕，則可以測量紅外發射器的遠場發射特性。   除此之外，針對在實驗室及產線上對VCSEL光電特性進行表徵和質量控制需求，精恩光學也提供量身定制的解決方案。通過結合業界知名的CAS高分辨率陣列光譜，此系統提供高達0.12nm的光譜分辨率，且由於集成時間短，特別適用於高產量的生產線。脈衝VCSEL測試儀PVT，則是專為實驗室納秒脈衝的時間分辨測量而定制。   若您想了解更多關於VCSEL近場測試的解決方案，歡迎隨時聯繫我們( [email protected])。

\\   ISA-EPIC Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會邀請演講： 《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing) 近年來，Mini/Micro LED不斷取得突破，已成為顯示產業的主要關注點。其“薄膜化，微小化，陣列化、高集成”的優勢，在虛擬現實、智慧車載、裸眼3D、元宇宙等領域的應用方興未艾，人們期待著這一顛覆性技術在泛微顯示、通信、醫療領域有著更多的高階應用。   ISA聯合歐洲光電產業協會(EPIC) 將於2023年7月4日(15:00-18:00 (北京時間) 9:00-12:00 (CEST) ) 召開“Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會”，將有來自全球Mini/Micro LED研究及應用領域的專家演講。   Instrument Systems受主辦方的邀請將在線直播演講《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing)。   時間：7月4日| 17:30-17:50 (在線直播) Zoom會議鏈接：https://us06web.zoom.us/j/82153605604?pwd=dHAzT2NPOGQzLzR6UkwwOHVXdDYvUT09 ID：821 5360 5604 Password：946165 講者：Dr. Tobias Steinel 精彩內容： 即將推出的µLEDs顯示技術具有高對比度、快速響應時間、寬色域、低功耗和長壽命等優點。但是，該技術在光學質量控制方面具有挑戰性，特別是對於窄帶寬µLEDs。   Dr. Tobias Steinel將介紹如何驗證一種軟件方法，以查找、定位和分析晶圓或顯示圖像上的單個發射器。重點是極快的分析算法，為每一個單一的發射器提供光學計量參數。  更多信息>>  -INVITATION- Instrument Systems 聯合精恩光學將參加7月11日在上海國家會展中心舉辦的2023 年慕尼黑上海光博會。多位經驗豐富的光學測量技術人員，將在展位 7.1E301 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！

\\  精恩光學邀您參加2023年慕尼黑上海光博會 2023年慕尼黑上海光博會將於7月11-13日在上海國家會展中心隆重舉辦。   作為亞洲重要的激光、光學、光電行業年度聚會，從基礎研究到產業應用，慕尼黑上海光博會探索行業發展趨勢，集中展示涵蓋激光器與光電子、光學與光學製造、激光生產與加工技術、成像及機器視覺、檢測和質量控制五大版塊的產品內容，是不容錯過的業內展會。 在今年光博會上，Instrument Systems 與精恩光學Giant聯手將攜帶多款產品驚艷亮相，將向您展示前沿的測量解決方案，針對各種顯示屏、AR/VR 裝置、紅外發射器、MicroLED 晶圓及VCSEL 的近場/遠場測量等。   展 商：Instrument Systems & 精恩光學Giant 時 間：2023年7月11-13日 地 點：國家會展中心（上海） 展位號：7.1E301 多位經驗豐富的光學測量技術人員將在現場為您介紹光測技術，並針對您的測量需求提供合適的解決方案。   我們誠摯邀請您蒞臨展位7.1E301 參觀及技術交流，本次展會現場精恩光學驚喜滿滿，準備了精美豐富的禮品，我們期待您的到來！    亮點搶先看 LumiTop X150 – 超高分辨率圖像亮度色度測量儀 LumiTop X150 專門開髮用於高分辨率顯示屏的像素精度分析和校正，能夠提供每顏色通道高達600 MP 的分辨率。通過單像素分析，可以檢查顯示屏各種不同的像素缺陷，如亮度或色差，從而對亮度進行像素準確度校正等。   LumiTop AR/VR – 快速精確的產線測試, 實現完美的用戶沉浸體驗 LumiTop AR/VR 近眼顯示器系統是專門為AR/VR頭戴式裝置中的近眼顯示器(NED) 生產測試而設計。RGB相機一次拍攝頭顯圖像，並以光譜輻射計測量圖像的光譜做為參考值，捕捉高精度的絕對亮度和顏色值，同時測量二維圖像、光譜和閃爍值。 DMS 803 – 應用靈活度非常高的顯示屏光電綜合測量系統 DMS 是精密分析顯示器與角度相關的光電綜合測量系統。可測量顯示屏的亮度、顏色和對比度在不同視角下的分佈。新推出的DMS 904 能夠7軸聯動, 實現高精度的視角、平面及橫向掃描。精確測量顯示器的光電轉換特性(EOTF) 、開關速度、響應時間和Flicker等。 VTC 4000 – 快速且高精度的VCSEL陣列近場測試 VTC 4000是專門為快速精確2D分析VCSEL陣列而開發，可同時對陣列中各個發射器的所有相關參數進行偏振控制的表徵，適合實驗室和生產環境的測量。應用領域包括VCSEL測試，特別是智能手機的3D傳感(如人臉和物體識別) 和車用領域(如LiDAR系統)。   擁有豐富的解決方案、前沿技術及多年經驗，精恩光學是您在測量AR/VR頭戴式裝置、VCSEL、激光安全、Micro/miniLED、UV-LED，以及各種顯示器生產測試應用的可靠夥伴。   如果您有任何關於光學測量的問題，請隨時和我們聯繫([email protected])，精恩光學團隊很樂意為你定制合適的測量解決方案。

\\  新型車載大型顯示屏的測量需求 近年來，隨著汽車科技的飛速發展，車載大型曲面顯示屏的應用逐漸成為汽車行業的關注焦點。這些令人印象深刻的高清顯示屏被廣泛應用於車輛的儀錶盤、中控及娛樂系統，為駕駛者及乘客提供了更加豐富、安全的沉浸式出行體驗。 隨著消費者對智能互聯功能和可視化信息的需求不斷增加，市場對車載大型曲面顯示器的需求也逐漸上升。 為了滿足市場的測試需求，德國Instrument Systems推出了全新的DMS 904光電綜合測試系統，專為測量車載大尺寸曲面顯示屏而量身打造。 DMS 904光電綜合測試系統共配備了七個電動軸，可以實現自動測量，並且還集成了電動顯微鏡光圈和內建取景相機，使得測量更加準確和便捷。此外，額外的X軸為設備提供了更大的靈活性，進而為實現多聯屏的測量提供了必要條件，使得量測寬度在1.8 m以下的顯示屏得以實現。 \\   DMS 904 的優勢：超大溫控箱和豐富的環境光照明配件 溫控下的車載屏測量一直是一個必不可少的項目。為此，DMS 904 光電綜合測試系統配備了新推出的超大溫控箱HCS-7。它的尺寸達到了160 x 60 x 20 cm，使得大尺寸曲面屏得以整體置於其內部，配合探測頭在X軸和Z軸上能夠自由移動，從而實現溫度控制下的多種標準高測量。 除此以外，通過溫控箱的特殊材質，使得箱體內的溫度能夠在短時間內從-40°C至+105°C達到指定溫度，並且能夠穩定地保持在指定的溫度範圍內。這些功能為在不同溫度條件下進行顯示器光電特性測量的準確性和可靠性提供了強有力的保障。 除了用於不同溫度下的測量，DMS 904 測試系統還可以分析不同環境光對顯示屏性能的影響。DMS 配備了豐富的照明配件，包括半球面、漫反射照明和點光源等，適用於不同的應用場景。 通過這些配件，可以測量光譜反射率以及在不同環境光條件下的對比度，幫助用戶深入了解顯示屏在不同環境中的表現。 DMS 904 大型綜合光電測試系統通過其豐富的功能和配件，為全球用戶提供可靠的顯示屏測量系統，並滿足汽車行業對於車載大型曲面顯示器的應用需求。 如果您對於顯示屏測量或車載大型曲面顯示器的測量應用有任何問題，請隨時與我們聯繫。我們的應用工程師將樂意為您提供量身打造的解決方案，並幫助您解決相關的技術挑戰。期待為您提供優質的服務和支持！