Instrument Systems的VTC 4000近場相機是專為快速精確2D分析VCSEL陣列而開發。它可以同時對陣列中各個發射器的所有相關參數進行偏振控制的表徵。VTC 測量系統相機基於業界領先的校準概念，依據德國國家標準（PTB）進行可追溯的校準，實現高測量精度的二維VCSEL品質分析。

VTC 4000分有兩個版本：不帶光纖輸出的VTC4000-100用於確定單個發射器的功率、偏振和空間輻射特性，以及帶光纖輸出的VTC4000-200用於結合光譜儀來做進一步的波長分析。

偏振控制的測量概念保證高精度

VTC 4000的創新校準概念是基於平場及偏振校正。偏振校正是在in-line分析發射光，並校正光學系統的偏振依賴性。此校正使相機只需單次拍攝，就能絕對測量視野內每個單一發射體的功率和偏振特性。

此獨特的測量概念可減低功率測量的誤差預算，並實現高測量精度，這是目前其他VCSEL測量系統所不能提供的。

發射器的快速品質控制

VTC 4000只需通過拍攝一張二維圖像，就能對相機視場內的光點進行功率和偏振測量。適合應用在生產線的品質控制上，來分析陣列的均勻性並檢測出偏離的單個發射器。

單個發射器的空間輻射特性

單個發射器的空間輻射特性，可以使用VTC 4000的Z-定位裝置進行表徵。通過相機在不同的Z位置拍攝圖像，測量出輻射束腰（emission waist）。並由此計算出每個發射器的發散性、數值孔徑(NA)和鐳射光束品質(M²)。

波長測量

VTC 4000還有一個帶光纖輸出的版本，可以連接CAS系列高解析度光譜儀，以對圖像中心的單個發射器進行光譜分析。通過XY定位裝置，VTC 4000便可以分析陣列中所有單發射體的光譜特性。