春意渐浓，万物焕新。2025年3月11-13日，‌作为亚洲激光、光学、光电行业的年度盛会，慕尼黑上海光博会‌将于上海新国际博览中心迎来20周年盛典。   本届展会共计9个展馆，较上届增加34%，覆盖N1-N5及E4-E7馆，以更大规模、更优产品、更多配套活动，连接供需资源，为科技引领高质量发展提供坚强后盾和有力支撑。   ‌LASER World of PHOTONICS CHINA在上海的展览内容覆盖了激光及光学行业的各个面向，汇聚了研究和工业应用。Instrument Systems将携手精恩光学Giant亮相展会，诚邀您莅临参观交流，共探光电技术前沿趋势与产业合作机遇。 展会时间‌：2025年3月11日-13日 ‌展会地点‌：上海新国际博览中心-3号入口厅，N1-N5，E7-E4馆 交通指南：地铁7号线花木路站1号口直达，自驾可导航至P2停车场。 我们的产品亮点   CoboTop - AR/VR测试的自动化解决方案 LumiTop AR/VR - 近眼显示器测量系统 LumiTop 显示屏测量系统 XR设备测量用照明光源 DMS 904 - 车载曲面显示屏测量系统 VTC - VCSEL测量系统   思想碰撞，洞见未来   展会同期将举办200+场技术会议，涵盖超快激光、量子探测等前沿议题‌。   Light激光与量子国际会议 联合国宣布2025年为国际量子科学技术年（IYQ），会议将集中探讨激光与量子科技的趋势性研究进展及未来应用前景，致力于打造一个学术与产业深度融合的国际交流平台。   光学技术大会 聚焦行业热点话题，主题包括计算光学成像技术、超构光学表面技术、半导体光学技术、光学微纳检测、红外探测技术、激光器、激光技术等最新科技研发成果和进展，同时大会将聚焦半导体、新能源、汽车工程、人工智能、生物医疗等应用场景，更有多个光学主题培训班的加入，为光电人带来更多专业课程。 预约参观   扫描下方二维码即可提前预约领取参观证，我们准备了精美小礼品，期待与您共聚展位 ‌E7.7406‌ ，让我们的创新解决方案为您带来灵感。期待您的光临！   扫码免费领取参观证   精恩光学深耕光学领域十余载，致力于为客户提供创新、可靠的测量技术支持。此次光博会不仅是产品的展示，更是与您面对面交流、共谋发展的绝佳契机。无论您是寻求技术突破，还是探索合作可能，精恩团队都已整装待发，期待与您共话未来！

作为亚洲激光、光学、光电行业盛会，2024年慕尼黑上海光博会将于3月20-22日在上海新国际博览中心隆重开幕。光学技术与激光技术在半导体检测、芯片制造、新能源汽车制造等领域发挥着关键作用，极大地推动了国家信息化建设和经济发展。 在此盛会上，Instrument Systems将与Giant精恩光学共同参展，在现场为您展示来自德国的前沿测量技术，并根据您的测量需求提供咨询服务。 我们的展位位于Hall W4 4417，热切期待您的光临! Instrument Systems 将会在显示技术、增强现实/虚拟现实（AR/VR）以及垂直腔面发射激光器（VCSEL）测量等领域展示一系列成熟且充满创新的解决方案。本届展会上，我们展台的一大亮点是全新一代的大尺寸和曲面显示屏测量解决方案。全自动的7轴 DMS 904 测角仪专为大尺寸显示屏的光学特性测试而设计，包括支持跨越整辆车宽度的Pillar-to-Pillar显示屏。   多位经验丰富的光学测量技术人员将在现场为您介绍光测技术，并针对您的测量需求提供最合适的解决方案。我们热切期待您的光临! 我们的测量应用 显示屏生产测量 LumiTop 4000显示屏系统一站测量显示屏的均匀度、偏色、闪烁、伽马值、缺陷检测 (Mura) 等特性。 AR/VR 测量 LumiTop AR/VR 及 DMS测角仪系统能检测及校正近眼显示器的均匀性、对比度、角度依赖性及色彩保真度等。 MicroLED 测量 LumiTop X150 高分辨率图像色度测量系统，适合 OLED 及 MicroLED显示器的亚像素分析及像素缺陷测试。 大型车载显示屏测量 DMS 904测角仪7轴联动，精确测量显示器的光电转换特性 (EOTF) 、开关速度、响应时间和 Flicker等 VCSEL 测量 VTC及PVT系列 VCSEL测量系统可根据国际激光安全标准 IEC60825 进行 VCSEL激光器的人眼安全测试，包括远场、近场及纳秒级的脉冲测量。 IR/NIR 测量 以CAS 140D IR高端光谱仪为核心的红外测量系统，可量测红外及近红外光源的光谱、功率、LIV曲线、光学输出的温度相关性及角度分辨测量。 我们期待在2024上海慕尼黑光博会与您相见！

据发现，VCSEL阵列在消费电子领域有着大量的应用，包括飞行时间（ToF）或3D传感中的结构光源，人脸识别（FR）、手势识别（GR）中的接近照明等等。本研究的重点是对整个VCSEL阵列和其中的每个发射器进行详细和全面的LIV测试、光谱和波束分析。 \\  对单个发射器进行2D LIV+λ检测的必要性 对于面部识别、3D传感、车内感应、激光雷达和测距等要求严格的应用至关重要 调查发射者之间的串扰 并行化测量，减少整体测量时间 LIV曲线是用激光二极管来确定电气和光学的工作特性最基本的测量方法。这些曲线建立了阈值电流、坡度效率、翻转点、是否存在任何扭结等。它们被广泛应用于不同的阶段，因为在制造过程的早期识别错误的DUTs是至关重要的。 整个VCSEL阵列的LIV特征   从200 mA到1.8 A测量整个阵列的L-I和I-V曲线 根据L-I曲线计算出坡度效率、阈值电流和翻转电流 在I-V曲线中，电压随预期的电流的增加大致呈线性增加  整个阵列中所有发射器的LIV特性   在此测量中使用的VCSEL阵列由281个发射器组成 测量了每个发射器的斜坡效率和阈值电流 外部发射器具有较高的坡度效率，但阈值电流较低 内部发射器在这两个量上都有微小的变化 除了LIV曲线外，我们还测量了不同电流下单个发射器（选择阵列选择15个发射器）的光谱，与LIV曲线相似。光谱如下图所示。每个子图表示一个发射器，其光谱在不同的电流下用颜色编码（蓝色在400 mA到红色在1.8 A）。我们观察到在较高的电流下的频谱位移，高阶模式也随着电流的增加而出现。 \\  结论 我们扩展了现有的一维LIV测试、光谱和光束分析，延申到覆盖VCSEL阵列里的每个单个发射器。这种方法不仅实现测量的并行化，缩短总体测量时间，还提供了研究个别发射器之间相互影响的机会。 VTC 4000：灵活、精确的单发射器分析 我们独特的测量解决方案，具有从客户那里定义良好的要求，允许识别阵列中性能不佳或规格不佳的发射器。我们相信，这种全面的表征单个发射器是至关重要的要求苛刻的应用。这使得VCSEL制造商能够确保最终产品的合规性，而不会产生任何包装成本，并加快制造过程。

\\ 德国Instrument Systems最近发布的LumiTop X20和X30成像色度计，为特殊亮度条件下的显示屏测试提供先进的解决方案。这两款色度计拥有卓越的性能，包括高分辨率（20 MP和31 MP）和广泛的动态范围（从mcd/m²到Mcd/m²），特别适用于均匀性测量和错误检测。 LumiTop X20 和 LumiTop X30 专为特殊亮度下的显示屏生产测试而设计。经过光谱优化的 LumiTop 技术深受客户信赖，是显示屏质量保证的强大工具。这项技术让显示屏制造商能够在广泛的亮度范围内进行测试，包括从高亮度的数百Mcd/m²到低亮度的0.001 cd/m²至0.1 cd/m²，充分考虑了人眼对于不同亮度的适应性。 当今的显示屏具备先进的亮度功能，可以智能调整亮度以提高用户体验并减轻眼睛疲劳。因此，在设计和制造显示屏时，进行准确的亮度和颜色测试尤为关键，特别是在低亮度条件下的性能测试。LumiTopX20和X30成像色度计配备高分辨率相机（20MP和31MP）、高精度电动镜头实现的弹性视场角(FOV)，以及广泛动态范围，成为理想的测量工具。 除了卓越的设计，LumiTop X20和X30还具备全新的闪烁传感器，适用于1 Hz到1 kHz的频率范围。通过LumiTop系列成像色度计，结合高分辨率相机、快速光度计、闪烁传感器和CAS高精度光谱仪，Instrument Systems持续引领显示屏测量技术领域，为低亮度和高亮度条件下的显示屏质量提供可靠的保障。   LumiTop 测量解决方案是广受业界信赖的的显示屏测量标准。若您有任何关于显示屏和Mini/MicroLED测量的问题，欢迎随时和我们联系（[email protected]），从精恩光学光测团队获得解决方案。

德国IS光测与GIANT精恩光学将联手展出各类显示器、AR/VR 装置、红外缐感应器及VCSEL 的测量解决方案。 国际全触与显示展(C-TOUCH & Display 2023) 将于2023年10月11-13日在深圳国际会展中心(宝安新馆) 举办。同期将结合新型显示技 术、Mini/Micro LED、AR/VR穿戴电子技术、智慧触控技术、全像显示器、智慧座舱及车载显示器、智慧商显、5G工业互联等热门话题，设置特色展区及50余场主题高峰论坛与研讨会，以及新品发表会集中展示前沿产业动态及发展趋势。 光学测量仪器领导品牌Instrument Systems与GIANT精恩光学，将亮相2023国际全触与显示展，为您介绍最新的高品质显示器量测技术。拥有丰富的解决方案、尖端技术及多年经验，Instrument Systems 是您在新型显示器生产测试、AR/VR 近眼显示器、MicroLED 晶圆及VCSEL 测量等应用的首选合作伙伴。 欢迎莅临我们的摊位：8号展馆8E11 多位经验丰富的光学测量技术人员将在现场为您介绍光测技术，並为您的测量需求提供最合适的解决方案。我们热切期待您的光临! 您需要测量什么产品？ 显示器生产测量 一站侦测显示器的均匀度、偏色、闪烁、伽玛值、缺陷侦测(Mura) 等特性 AR/VR 测量 近眼显示器的均匀性、对比、角度依赖性及色彩保真度检测及校正 MicroLED 测量 OLED 或MicroLED显示器的亚像素分析及像素缺陷测试 车载显示器测量 符合OEM 合规准则要求的车内显示器及光学元件测量 VCSEL 测量 发射功率、VCSEL 阵列的均匀性、太空辐射特性，以及奈秒脉冲测量     IR/NIR 测量 光谱、功率、LIV 曲缐、光学输出的温度相关性及角度分辨测量 我们将在现场展示LumiTop 显示器生产测试系统，LumiTop AR/VR 近眼显示器测量系统，DMS 测量系统等，产品覆盖Mini/Micro LED、OLED、AR/VR穿戴式电子、智慧触控、全像显示器和车载显示等领域。 欢迎莅临我们在C-Touch的展位，以获得更多资讯！

第四届深圳Mini/Micro-LED产业链创新发展高峰论坛邀请演讲： 《晶圆上μLED 和微型显示器的快速测试》 Mini/Micro LED产业发展如火如荼，随着Mini/Micro LED 技术不断突破，Mini LED应用市场正高速成长，Micro LED进入量产元年。第四届深圳国际Mini/Micro LED产业链创新发展高峰论坛(IMCS 2023)将于10月12日于深圳全触展同期举办。 Instrument Systems受主办单位邀请，资深应用工程师朱天行先生将进行主题演讲《晶圆上μLEDs 和微型显示器的快速测试》，介绍透过软体在晶圆或显示器影像中寻找、定位和分析单一发射器的方法，重点是极快的分析演算法，为每一个单一的发射器提供精确的光学计量参数，敬请大家期待！ 时间： 10月12日| 15:30-15:50 地点：深圳国际会展中心(宝安新馆) 6/8号馆(二层) 会议室 论坛主题：与产业链同行-掘金MLED未来 讲者：朱天行先生 大会背景： 目前，随着Micro LED量产元年的到来，MLED产业将迎来爆炸性成长。数据显示，2022年Mini LED面板出货超1800万片，年增88%，到2026年将超3700万片；2025年可穿戴品牌预计导入Micro LED，2027年Micro LED在可穿戴应用市场出货可望突破1000万片，Micro LED在VR/AR市场出货将达670万片。为了抢佔第三代显示技术庞大的市场机遇，各Mini/Micro-LED产业链厂商涌入，透过协同创新打通Mini/Micro-LED产业链，完善Mini/Micro-LED产业生态，加速了Mini/Micro -LED产业化。 Mini LED背光可改善色域，提高HDR及降低耗能，助推液晶显示升级，从2019年开始逐步导入电竞笔电、高阶电视等应用。2021年，苹果iPad Pro、MacBook Pro引入Mini LED背光之后，Mini LED背光开始全面开花，进一步加速向车载显示器、平板电脑、笔记型电脑、电视、显示器以及VR等领域渗透，展现出巨大的发展潜力，是2023年一股强劲的成长力量。 Micro LED集低功耗、高亮度、超高解析度与色彩饱和度、反应速度快、超省电、寿命较长、效率较高等优点于一身，兼具OLED、LCD的显示技术优势，同时具有无缝拼接等特点，Micro LED在100吋以上尺寸显示应用、可穿戴设备、AR等具有良好的发展前景。目前，Micro LED技术点不断突破，已打通背板、驱动补偿、LED晶片、转移等关键技术，产业链加速融合，进入量产元年… 朱天行先生，拥有多年光学测试系统的设计与最佳化经验。目前正专注于光学和AI的结合研究和应用。研究涉及深度学习演算法在光学检测和影像处理领域的应用。如果您有任何Mini/Micro-LED技术或测量问题，欢迎随时与我们联络~ -INVITATION- Instrument Systems 联合Giant精恩光学将亮相10月11-13日在深圳国际会展中心(宝安新馆) 举办的2023年国际全触与显示展。经验丰富的光学测量技术人员将在展位 8号馆 8E11 为您介绍光测技术，我们热切邀请您莅临参观指导！

汽车前照灯的良好性能，是确保道路及驾驶安全性的关键。道路行驶的环境复杂多变，气候条件、道路照明、行人密度、前方车辆距离、公路或弯道等，都影响着驾驶者的视野。过去只分近光及远光的照明模式，无法依据变化多端的行驶条件改变头灯配光，容易产生照明死角或眩光。 为了提高行车安全与舒适度，近年来，各大汽车制造商纷纷装备了能主动配合道路环境的自适应前照灯系统（AFS - automotive adaptive forward lighting system）。其中，使用MicroLED阵列的前照灯有发光效率高及配光灵活的优势，是智能车灯发展的主流之一。 此篇测量应用将探讨测量MicroLED车灯阵列的特点，並介绍IS光测系统的测量解决方案。 \\   1. 待测物：MicroLED 汽车车灯阵列 自适应前照灯系统可以根据车辆行驶环境来动态调整光输出模式。例如在光锥中侦测到对向来车时，自动调暗对其的灯光照射，防止驾驶被眩晕。近期的前照灯采用超过1000个像素的MicroLED阵列作为光源。由于每个像素都可以单独控制，因此能实现更精细的光束控制（图1）。这类"数位头灯"甚至能在道路上实现投影（图2）。 ▲ 图1 : 用于AFS 的MicroLED 阵列示意图。 ▲ 图2 : 数位光源可在道路上投影。(图像来源：Mercedes-Benz) \\   2. MicroLED 阵列车灯的测量要求和挑战 为了精确控制车灯质量，必须能测量单个LED的均匀性、亮度及色彩，並定位阵列中的单颗LED缺陷。 挑战1：温度影响测量结果 测量高功率LED的主要难题，是LED通电时会自发热，进而造成光输出下降及颜色漂移（图3）。   ▲ 图3 : 白光LED通电后亮度（红色）和色温（蓝色）的典型漂移。 解决此问题，需从以下两方面着手： 提高测量速度，排除过大的色温漂移 测量程序与电源同步，在LED通电的瞬间便进行量测。 挑战2：在高速测量下维持高精度 传统的单颗LED 逐步测量法，对集成1000 多颗MicroLED 的矩阵来说过度耗时（方法A）。如使用基于摄像机的二维测量系统，则可以同时测量所有LED，测量速度提高许多（方法B）。但此方法需要高水平的测量系统，来达成测量MicroLED 所需的精度。 测量方法 A: 单一测量法， 每颗LED分开测量 B: 二维测量法， LED阵列一次测量完成 系统 光谱仪与积分球， 一次点燃一颗量测 基于摄像机的系统， 通过拍摄一次测量所有LED 优点 高精度测量LED功率和光谱 非常快速地测量LED功率及颜色 缺点 费时 如何实现摄像机采集信息的  高精度是一大挑战 \\   3. 解决方案：LumiTop – 光谱增强的产品成像色度测量系统 LumiTop 系统解决方案结合上述单一测量法及二维测量法的优点，並克服了高功率LED 的发热问题。 ▲ 图4 :  LumiTop 2D 测量系统 LumiTop系统设计 LumiTop 2D 测量系统包含LumiTop 4000 成像色度仪及CAS 140D 高精度光谱仪，两者通过光纤连接（图4）。集成分光器的设计，使RGB 相机和光谱仪可以同步量测。如图5所示，光谱仪从待测物的中心点采集高精度的光谱信息，成像色度仪则同时测量整个LED 阵列，再以光谱信息为参考基准调整参数，从而提高整个二维图像的测量准确性。 根据修正后的二维测量数据，可有效评估整个LED 阵列的均匀度、亮度和单个LED 的颜色，並精准地找出LED 缺陷（图6）。LumiTop 测量系统是根据亮度（cd/m2）校准，这也是测量二维发射器发光特性的标准。 ▲ 图5 : 光谱仪参考点光谱。 ▲ 图6 :  2D 测量结果：LED 均匀度图。 避免 LED 发热问题 传统的二维摄像机基于彩色滤光片，需要至少三次的连续颜色测量(红、绿、蓝）。此测量方法通常费时数秒，而测量时因为LED 不停发热，颜色、光强一直处于变化状态，导致测量结果不准确。 我们研发的LumiTop 系统，可以通过一次拍摄所有的颜色通道，解决LED 的发热问题。该系统使用RGB 摄像机，並搭载拜尔滤色镜，能实现毫秒级速度的二维颜色测量。因此，LumiTop系统也适合用于生产制程的在缐测试。通过硬件触发源，LumiTop 可以在LED 通电的同时摄像，在LED发热前就已完成量测。 高精度的测量结果 除了温度上的挑战，LumiTop系统还克服了测量精度上的挑战。为了达到测量MicroLED阵列要求的精度，LumiTop与光谱辐射计相配合，将摄像机的测量结果校正至精确水平（图4）。测量系统的校准（Absolute System Calibration）是此解决方案能确保高精度的关键：Instrument Systems的每套系统在发货前，都经过我们ISO 17025 认证测试实验室的精度验证。 基于其仪器设计、精度、速度和分辨率，带100mm镜头的LumiTop 4000适合用于实验室的LED阵列测量或AFS应用的生产在缐测试。 如果您需要更多关于MicroLED测量的信息，可随时与我们联系。我们的测量团队很乐意为您的特殊应用提供实用建议。请联系：[email protected]

2023年起， 德国国家认可机构（DAkkS）扩大了Instrument Systems 的认可范围，使我们能在客户的LGS, DMS及AMS测角仪安装场地为DSP系列光度计进行符合ISO 17025标准的测试及调整，並提供测试证书。 此外，3月和4月，我们分別将在德国电子显示会议(EDC)和中国国际显示技术会议(ICDT)上，分享关于显示器检测和µLED 及微显示器检测的最新技术报告。更多细节请参见下文。期待您的参加！ -INVITATION- \\  国际显示技术会议ICDT邀请演讲:  《快速测试晶圆上µLED及微显示器的方法》 时间：4月2日| 17:10-17:30 (在缐直播)  论坛24：Micro-LED 工艺和评估  讲者：Dr. Tobias Steinel   精彩内容： MicroLED显示器具有对比度高、响应时间快速、色域广泛、低功耗和使用寿命长等特点，因此是备受业界期待的新一代显示技术。然而，MicroLED技术在光学质量控制方面很具挑战性，尤其是窄带MicroLED。在演讲中，TobiasSteinel博士将说明如何通过软件，在晶圆或显示器图像上查找、定位及分析单个发射器。以及如何通过高速演算法，为每个发射器提供准确的光学计量参数。  更多信息>>    -INVITATION- \\   EDC 2023:  Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology 在2023年的EDC纽伦堡电子显示会议上，Instrument Systems将就“全局和磙动快门图像伪影的特征及预防”这一主题发表演讲。我们的产品经理Andreas Liebel将讨论光度计相机的快门类型对图像伪影的影响，並提出解决方法，以确保在高精度显示器测试时避免这些伪影。现代的高端显示器具有动态调节刷新率和脉冲宽度的特性，以节约能源並根据屏幕内容动态调整。这些特点为显示测试系统提出了新的挑战，並可能导致图像伪影的产生。  更多信息>>    -INVITATION- \\  在客户设备的安装现场进行符合ISO 17025标准的测试服务 自2023年1月起，Instrument Systems提供其LGS和AMS大型测角仪设备在客户现场的安装位置进行ISO 17025合规光强度的测试服务。这样，即使DSP 200和DSP 10光度计在运行地点进行测试和校准，客户也可以获得符合ISO 17025标准的测试证书。   以前，现场测试的认可仅适用于Instrument Systems的DMS显示测量系统。德国IS光测的客户现在可以在自己的运行场所对DSP 200和DSP 10光度计进行测试和调整，並获得符合ISO 17025标准的测试证书。这意味着质量控制和COP测试可以持续进行，而不必中断操作並将设备拆卸送回原厂。认证的具体范围请见DAkkS证书。  更多信息>>    -INVITATION- \\   Information Display 杂志专访企业故事 在过去的六十年里，发光器件如发光二极管（LED）经歷了一个激动人心的演变。它们从指示灯和数码显示器中微弱的红光开始，发展到点亮电视屏幕，並成为照明家庭和街道的白光。   从一开始，总部位于慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的发展及其蓬勃发展的应用领域。Instrument Systems成立于1986年，是由Richard Distl在赢得德国青年研究竞赛后所创办。现在则是高精度光谱仪、定制系统和用于光谱光测量的软件解决方案的领先光学设备制造商...... 采访内容由Prachi Patel发表在InformationDisplay 1/23。  更多信息>>    我们的测量团队很乐意就您的特定应用提供专业建议，请随时向我们谘询：[email protected]。

德国IS光测的VCSEL测量系统荣获激光焦点世界创新奖 Instrument Systems(德国IS光测)专为测量VCSEL阵列设计的二维近场分析红外相机VTC4000，荣获了Laser Focus World的“激光焦点世界创新奖”。   该相机可以快速、准确地分析窄带红外发射器的近场特性，並提供降低偏振相关性所需的信息，减低测试系统误差。其高精度的测量结果协助提高VCSEL的安全运行及功率效率。结合CAS高分辨率阵列光谱仪，VTC系统还可以测量红外发射器的单发射器波长，並通过透射屏幕来测量其远场发射特性。   除了VTC4000，IS光测也提供定制的解决方案，例如脉冲VCSEL测试仪PVT系统，用于在实验室和生产缐上中对VCSEL的光电特性进行表征及质量控制。 图：VCSEL阵列二维近场分析系统VTC4000   “VCSEL是具有固有单纵模的组件，通常表现出复杂的偏振特性，”Instrument Systems的关键客户经理Stephanie Grabher表示。“它们发出的光通常沿两个正交方向之一的缐性极化。如果温度或偏置电流发生变化，可能会观察到突然的极化切换。由于VCSEL发射的是多种极化状态，因此无法控制其极化角度。为了充分利用VCSEL 的性能潜力，同时保证安全运行，测量幅值和绝对功率时，也应考虑其极化依赖性。”   图: 上：受不稳定偏振影响的VCSEL测量结果，下：偏振稳定的VCSEL测量结果   基于其一拍即得的单次成像测量法，VTC4000可以同时测量近场VCSEL阵列中各个发射器的空间偏振，並提供降低测量设置偏振相关性所需的信息。该程序能降低VCSEL测试系统的误差预算，並为确保激光源的人眼安全性提供了高度准确的测量值。   VTC红外相机能表征单个发射器的缺陷、位置、功率和辐射信息。结合CAS光谱仪，还可以测量单发射器波长。而搭配透射屏幕，则可以测量红外发射器的远场发射特性。   除此之外，针对在实验室及产缐上对VCSEL光电特性进行表征和质量控制需求，精恩光学也提供量身定制的解决方案。通过结合业界知名的CAS高分辨率阵列光谱，此系统提供高达0.12nm的光谱分辨率，且由于集成时间短，特別适用于高产量的生产缐。脉冲VCSEL测试仪PVT，则是专为实验室纳秒脉冲的时间分辨测量而定制。   若您想了解更多关于VCSEL近场测试的解决方案，欢迎随时联系我们( [email protected])。