CAS 120-HR

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面向激光器和 VCSEL 的高分辨率陣列光譜儀

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測量應用
技術數據
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CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR – 針對測量窄帶光源而優化

高解析度 CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 光譜儀基於 Instrument Systems 的 CAS 120 系列陣列光譜儀。專門開發用於精准測量價格敏感型大批量生產中的窄帶發射源(雷射器/VCSEL)。

 

CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 能在較短的測量時間內提供較高的光譜解析度,因此適用於較短光脈衝的高要求光譜測量。

 

和 Instrument Systems 的所有 CAS 型號一樣,CAS 120-HR/B-HR 也有可追溯至 PTB 的校準。用於暗測量的集成輪式密度濾光片和光圈可實現完全自動測量,同時確保探測器允許較高的動態範圍。

 

為了能夠集成到定制程式和生產環境中,CAS 120-HR/B-HR 型號與 DLL 和 LabVIEW® 驅動程式相容。Instrument Systems 的 SpecWinPro 軟體可用於實驗室的廣泛測量。

 

 

CAS 120-HR / CAS 120B-HR – 產品特長:

 

  • 高達 0.2 nm / 0.12 nm FWHM(0.05 nm 資料點間隔)的光譜解析度
  • 800-1000 nm 光譜範圍內的測量範圍通常寬 80、120 或 160 nm(可應要求提供 <800 nm 的更廣泛的測量範圍)
  • “薄型背照式”CCD 探測器,提供高測量靈敏度、動態範圍和穩定性
  • 集成輪式密度濾光片,可實現異常廣泛的可測量強度範圍
  • 用於實驗室和生產應用的套裝軟體

 

使用 CAS 120-HR / CAS 120B-HR 快速準確地測量光源

隨著消費電子(如面部識別)、汽車工業 (LiDAR) 和材料加工(高性能二極管激光)等新技術的發展,激光二極管正被廣泛用於新的應用領域。 Instrument Systems 的高分辨率光譜儀可保證在生產和開發實驗室中進行快速精確的測量。

 

CAS 120-HR 和 CAS 120B-HR 型號涵蓋數個 800 至 1000 nm 的窄測量範圍,因此適用於所有窄帶光源的典型測量要求。

 

 

測量應用

CAS 120-HR / CAS 120B-HR - 技術數據
型號 Grating 1200 lines/mm
CAS 120-HR
Grating 1200 lines/mm
CAS 120-HR
Grating 1800 lines/mm
CAS 120-HR / B-HR

光譜範圍

805 - 975 nm

840 - 1006 nm

902 - 982 nm

中心波長

888 nm

923 nm

941 nm

光譜解析度 (典型)

0.4 nm

0.4 nm

0.2 nm / 0.12 nm

資料點間隔

0.10 nm

0.10 nm

0.05 nm

波長測量精度

±0.05 nm

±0.05 nm

±0.05 nm

詳細測量條件請參看資料表及產品手冊,或聯繫 Instrument Systems。

 

 

可應要求提供定制測量範圍(包括 800 nm 以下)。

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