面向激光器和 VCSEL 的高分辨率陣列光譜儀
返回
高解析度 CAS 140CT-HR 光譜儀基於 Instrument Systems 成功的 CAS 140CT
系列陣列光譜儀。它專為評估窄帶發射源(雷射器/VCSEL)而開發,以較短的測量時間提供較高的光譜解析度。
具有冷卻性能的 CCD 探測器支援複雜的光譜測量,並且具有較短的光脈衝、低暗電流和低雜訊。由於 CAS 140CT-HR 可延長積分時間,因此還適合測量較弱的光源。
和 Instrument Systems 的所有 CAS 型號一樣,CAS 140CT-HR 也有 PTB 可追溯校準。USB 標準介面可通過 PCIe 介面使用,提供多種觸發選項。用於暗測量的集成輪式密度濾光片和光圈可實現完全自動測量,同時確保探測器具有較高的動態範圍。
Instrument Systems 的 SpecWinPro 軟體可用於實驗室的綜合測量。此外,CAS 140CT-HR 型號還與 DLL 和 LabVIEW® 驅動程式相容,可集成到定制程式和生產環境中。
CAS 140CT-HR – 產品特長:
- 高達 0.2 nm FWHM(0.08 nm 資料點間隔)的光譜解決方案
- 800-1000 nm 光譜範圍內的測量範圍通常寬 80、120 或 160 nm(可應要求提供 <800 nm 的更廣泛的測量範圍)
- 具有主動冷卻性能的高端 CCD 探測器,可實現較高的測量靈敏度、動態範圍和穩定性
- 集成輪式密度濾光片,可實現異常廣泛的可測量強度範圍
- USB 或 PCIe 介面,提供多種觸發選項
- 用於實驗室和生產應用的套裝軟體
隨著消費電子(如面部識別)、汽車工業 (LiDAR) 和材料加工(高性能二極管激光)等新技術的發展,激光二極管正被廣泛用於新的應用領域。 Instrument Systems 的高分辨率光譜儀可保證在開發實驗室和生產中進行快速精確的測量。
CAS 140 CT-HR 型號涵蓋數個 800 至 1000 nm 的窄測量範圍,因此適用於所有窄帶光源的典型測量要求。
測量應用
型號 | Grating 1200 lines/mm | Grating 1200 lines/mm | Grating 1800 lines/mmVIS |
光譜範圍 |
805-975 nm |
840-1006 nm |
902-982 nm |
中心波長 |
888 nm |
923 nm |
941 nm |
光譜解析度 (典型) |
0.4 nm |
0.4 nm |
0.2 nm |
資料點間隔 |
0.16 nm |
0.16 nm |
0.08 nm |
波長測量精度 |
±0.05 nm |
±0.05 nm |
±0.05 nm |
詳細測量條件請參看資料表及產品手冊,或聯繫 Instrument Systems。 |
Customized measurement ranges (also < 800 nm) on request!