用於像素級質量控制的超高分辨率、一體化解決方案
LumiTop X150
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LumiTop X150: 亞像素分析,保證較高顯示屏質量!
LumiTop X150 是一款高解析度圖像亮度和色度測量儀,對我們 LumiTop 測量系統的創新三合一概念進行了補充。開發該產品是為了應對 OLED 或 µLED 顯示幕在亞圖元品質方面不斷增長的顯示幕開發和生產挑戰。
圖元缺陷測試
得益於圖元移位元模式,LumiTop X150 能夠提供每顏色通道高達 600 MP 的解析度。通過單圖元分析,可以檢查顯示幕各種不同的圖元缺陷,如亮度或色差,從而對亮度進行圖元準確度校正等。因此,這款新的圖像色度測量儀完美適合高解析度生產顯示幕的亞圖元準確度品質控制(如 Demura),同樣適用於新顯示幕技術的研發。
適合產業界應用
各種產業界適用鏡頭可用於測試較小的微顯示器、智慧手錶、手機、平板電腦和 8K 顯示器。無論樣本採用何種顯示幕技術,都可使用 LumiTop X150。
LumiTop X150 採用創新設計,在一個測試站中即可執行所有相關光學測試。由於光譜參考測量,這可保證更短的測量時間和高絕對準確度。硬體觸發允許對測量序列進行時間控制,特別是使用調製或觸發光源時,如 OLED 或 µLED。
LumiTop X150 – 產品特長:
- 每顏色通道高達 600 MP 解析度的圖像亮度和色度測量儀
- 具有創新型圖元移位元模式的三合一測量系統
- 全面評估亮度和色度均勻性、色差、圖元缺陷、對比度、伽馬曲線、白點、閃爍和亮度調節以及中心點的光譜分析
- 測量時間短和高絕對測量精度
- 適合所有顯示幕技術,特別是 OLED 和 µLED 顯示幕
LumiTop X150 – 像素級光學生產測試的完美解決方案
LumiTop X150 專門開髮用於高分辨率顯示屏的像素精度分析和校正。其用途包括測試用於 AR/VR 應用的微顯示器、智能手錶和智能手機、電視、背光單元或 µLED 晶圓。採用 LumiTop X150 攝像頭的測量解決方案始終提供快速而準確的結果,以實施像素級質量控制。
測量應用
LumiTop X150 – 技術參數
儀器型號 | LumiTop X150 |
解析度 (RGB) |
150 MP |
圖元移位元模式下的解析度 |
每顏色通道 600 MP |
鏡頭選擇 |
多種鏡頭,對應 0.25 寸到無限大的顯示幕尺寸 |
硬體觸發器 |
有 |
高動態範圍 |
>80 dB |
詳細測量條件請參看資料表及產品手冊,或聯繫 Instrument Systems。 |