\\ ISA-EPIC Mini/Micro-LED 技术及应用在缐研讨会邀请演讲:
《高通量µLED晶圆测试》(High-throughput MicroLED Wafer Testing)
近年来,Mini/Micro LED不断取得突破,已成为显示产业的主要关注点。其“薄膜化,微小化,阵列化、高集成”的优势,在虚拟现实、智慧车载、裸眼3D、元宇宙等领域的应用方兴未艾,人们期待着这一颠覆性技术在泛微显示、通信、医疗领域有着更多的高阶应用。
ISA联合欧洲光电产业协会(EPIC) 将于2023年7月4日(15:00-18:00 (北京时间) 9:00-12:00 (CEST) ) 召开“Mini/Micro-LED 技术及应用在缐研讨会”,将有来自全球Mini/Micro LED研究及应用领域的专家演讲。
Instrument Systems受主办方的邀请将在缐直播演讲《高通量µLED晶圆测试》(High-throughput MicroLED Wafer Testing)。
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即将推出的µLEDs显示技术具有高对比度、快速响应时间、宽色域、低功耗和长寿命等优点。但是,该技术在光学质量控制方面具有挑战性,特別是对于窄带宽µLEDs。
Dr. Tobias Steinel将介绍如何验证一种软件方法,以查找、定位和分析晶圆或显示图像上的单个发射器。重点是极快的分析算法,为每一个单一的发射器提供光学计量参数。
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-INVITATION-
Instrument Systems 联合精恩光学将参加7月11日在上海国家会展中心举办的2023 年慕尼黑上海光博会。多位经验丰富的光学测量技术人员,将在展位 7.1E301 为您介绍光测技术,我们热切邀请您莅临参观指导!