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VCSEL近場測量系統

靈活、精確的單發射器量測

系統 / VCSEL近場測量系統

產品介紹

系統配置

測量應用

產品介紹

系統配置

測量應用

用紅外相機對VCSEL陣列進行表徵

VTC 4000實驗室量測系統是專門為近場表徵無衍射光學元件（DOE）的VCSEL陣列而開發的。此系統結合了高精度的VTC 4000紅外相機，以及靈活的DUT三維平移定位裝置，能夠一次分析單發射器的所有相關參數。

VTC 4000的系統設計基於創新的校準技術，能修正單發射器功率的偏振依賴性，從而實現特別高的測量精度。只需在相機視場內進行一次測量,即可確定發射器的功率和偏振特性。此外，若通過光纖連接CAS系列高解析度光譜儀（如CAS 140CT-HR），還可進一步分析單發射器的光譜特性。

VCSEL測量系統需能檢測多樣參數，並需滿足工業標準的嚴格規範。

通過經校準的高精度測試系統測量，能維持低誤差預算 (minimum absolute error budget)，使得VCSEL的性能效率得到充分的發揮，同時又能安全運行。此測試系統採用模組化設計，可根據客戶要求定制。

VTC 4000是高精度的測量相機，也適用於生產線上的快速迴圈時間。

對於VCSEL的光譜測量，我們提供CAS-HR系列的分光輻射儀，可以實現高達0.09納米的光譜解析度。

系統配置

用於表徵近場VCSELs的實驗室測量站通常包含以下部件：

部件	描述
相機	用於VCSEL近場表徵的紅外相機VTC 4000，解析度為1200萬圖元，視場為1.4 mm x 1.0 mm。可選擇帶光纖輸出型號，用於連接高解析度光譜儀
光譜輻射儀	高解析度CAS 140CT-HR的光譜解析度高達0.2nm，是一個高端的測量解決方案，帶有冷卻的CCD檢測器，具有高穩定性，可作為參考系統。高解析度的CAS 120B-HR，光譜解析度高達0.1x nm，兼具高性能及高性價比的優勢。
3軸平移裝置	XYZ定位系統用於擴展測量範圍
校準	在910-980納米範圍內，可對德國/美國國家標準如PTB和NIST進行可追溯的校準
軟體	LumiSuite的SDK，可以輕鬆整合到定制的生產流程中。