系統 | Giant Testing Equipment Company Limited

Instrument Systems的紅外輻射測試系統採用模組化設計，可依據客戶需求打造更合適的測量系統。既適用於實驗室環境，也適用於自動化生產測試。我們的應用專家能為所有種類的紅外發射器配置測量系統，以測量例如窄帶光源，鐳射二極體/VCSELs，以及LED和其他寬度的發射器等。

我們的系統解決方案由以下器件構成：

經校準的輻射測量設備
可選電流源和待測物控溫裝置
軟體模組

關鍵特性:

高測量精度，可彈性擴展的模組化設計
寬光譜範圍(200 – 2150 nm)
可追溯至國家實驗室的校準 (PTB 或 NIST)
集成待測裝置的溫度控制和電源供應
脈衝發生器和脈衝測量(包括 µs 脈衝)

測量挑戰

要精確測量窄帶發射器—例如鐳射二極體和VCSEL—需使用具高光譜解析度的光譜儀。為此應用，我們研發了涵蓋近紅外範圍的CAS-HR系列光譜儀，其光譜解析度可達到0.09納米。此外，針對脈衝式紅外發射器的量測需求，我們使用快速光電二極體來實現特別高的測量速度。對於寬頻紅外發射器的測量，則可選配具有寬光譜範圍的光譜儀。

為精確表徵紅外發射器的特性，需測量其在不同電流和溫度下的光輸出。利用我們的紅外測量系統，可以輕鬆控制電流源以及各種溫度條件。

用於測定紅外發射器特性的標準系統包括：

部件	描述
光譜儀	CAS 系列 (200-1100 nm) 或 CAS IR 系列 (780-2150 nm) 或 CAS-HR 系列 (800-1000 nm) 另有其他高解析度版本的CAS IR 紅外系列，更多資訊請聯繫我們 (例如 1310 nm-1440 nm; 光學解析度 <1 nm版本)
光度計（可選）	用於功率測量，經校準的光電二極體 (800-1000 nm) 可選：用於功率測量，經校準的光電二極體 (800-1650 nm) 脈衝的時間解析度測量 (>1 µs)
測量轉接頭 / 配件	ISP 系列積分球 EOP 系列輻照度光學探頭 LEDxx 光強探頭 TOP 系列輻照度探頭 LEDGON 及LGS 系列配光測角儀
校準	校準可追溯至PTB 或 NIST等國家標準
軟體	SpecWin Pro/Light 實驗室軟體模組光譜儀 SDK (CAS-DLL)，可集成至生產制程中
電流源 (可選)	Keithley 24xx/26xx 電流源 Vektrex SpikeSafe SMU 恒定或脈衝式電流 (>1µs)
溫度控制 (可選)	Arroyo TEC source/mounts 溫度範圍: 15-150 °C
LED 校準標準 / 查核標準 (可選)	ACS-570-15/-17 (860 nm 及960 nm) 可選: IR ACS (1200 nm, 1300 nm, 1450 nm)

客制化系統配置

Instrument Systems的紅外測量系統解決方案具備高度靈活性，有各式高精度光譜儀、光度計及豐富配件可供選擇，非常適合用於開產品發或生產制程中。

我們的光學量測專家樂意為您的特殊應用提供實用建議。若您有任何關於紅外發射器產品測量的問題，歡迎隨時和我們聯繫，從我們的團隊獲得解決方案。