用於減少光譜中的雜散光的校正矩陣
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雜散光校正
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系統範例
搭載雜散光校正
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
產品介紹
應用
產品介紹
應用
UV、IR 和藍光範圍中 LED 的精確輻射測定
陣列光譜儀較重要的光度和輻射性能限制是儀器中的雜散光入射。換言之，陣列探測器的特定元件會受到非指定光譜的輻射的污染。在 Instrument Systems 強大的 CAS 系列陣列光譜儀中，通過設計方法有效地抑制了雜散光，因此從一開始污染就很低。
NIST 校正方法
根據 NIST 方法，剩餘的雜散光可以通過可調諧雷射器來校正。主要思路是鐳射線的單色輻射在很大程度上可以分配給探測器的特定圖元。
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對於該波長而言，帶通函數之外測得的所有光都是該圖元產生的雜散光，可以從探測器中的所有其他圖元中看到。在所有激發波長上檢測到的總光譜會產生一個特定於設備的矩陣。如果減去實信號的帶通函數，結果就是雜散光矩陣。 |
雜散光矯正 CAS 140D – 具有高光學動力和準確性的陣列光譜儀
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在校準過程中使用雜散光校正矩陣（可選），可進一步優化 CAS 140D 原本就出色的雜散光值。因此，該測量儀器非常適合 UV-LED 的精確測量和光源危害等級的測定（光生物安全）等。 |
系統範例
搭載雜散光校正
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
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依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
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符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
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