用於簡單測量任務的強大軟件
產品
SpecWin Light
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系統範例
搭載SpecWin Light
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
儀器介紹
測量應用
產品特長
儀器介紹
測量應用
產品特長
用於簡單測量任務的強大軟件
Instrument Systems 的 SpecWin Light 軟件為不需要 SpecWin Pro 完整功能而重點關注易操作性的用戶而開發。
SpecWin Light 支持 CAS 120 和 CAS 140CT/D 系列光譜儀。該軟件側重於基本功能測量、分析和記錄，特別適合實驗室和質量保證的日常應用。
光測實驗室的日常任務
產品特長
- 程式支援的硬體設定
- 測量系列的配置和文檔
- 在不同配置之間快速切換
- 自身計算的定義和應用
- 測量資料的即時顯示
- 所有讀數概述
- 驗證各個測量變數，並與規定限值進行協調
- 保存測量結果，包括所有計算得出的值、原始資料和測量設置
- 使用使用者友好的範本生成單個測量報告
對於複雜的測量任務，我們還提供具有一系列增強功能的軟體：SpecWin Pro
系統範例
搭載SpecWin Light
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
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利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
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測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
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NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
