Instrument Systems 光譜儀編程接口
產品
光譜儀軟件開發工具包
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系統範例
搭載光譜儀軟件開發工具包
藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
DMS 顯示屏測量系統
用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
DTS 顯示屏測量系統
基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
LEDGON 測角儀系統
遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
VCSEL 生產測試系統
脈衝 VCSEL 的完整特性測定
儀器介紹
測量應用
產品特長
儀器介紹
測量應用
產品特長
用於將光譜儀集成到現有軟件中的開發工具
Instrument Systems 為 LabVIEW 提供設備 DLL 和驅動程序，用於從您自己的程序控制光譜儀。這將使您能夠按照自己的測量程序控制光譜儀，並將其與其他設備一起操作。
除 Windows DLL 外，SDK 還隨附了全面文檔，包括採用各種編程語言的示例程序。用於 LabVIEW VI 的驅動程序作為選項提供。
面向程序員的開發工具
設備 DLL 允許直接控制所有光譜儀功能並捕獲光譜和由此派生的所有結果。庫中包含計算輻射、光度和色度值所需的全部功能。
除了更複雜的計算，如色座標（CIE1931、CIE1960、CIE1976）和顯色指數（CIE13.3.95、DIN6169、TM30-15）函數，MultiTrack 或 Auto-Range 等功能也可用于輕鬆高效地控制生產和實驗室中的廣泛測量任務。
此外，通過監控感測器溫度和光譜儀狀態，可增強流程的可靠性。
LabVIEW 驅動程式對應於相應設備 DLL 的擴展，並使其功能以 LabVIEW VI 的形式提供。
為了方便快速入門程式設計，除了全面文檔外，還有許多通用程式設計語言的代碼示例和用於 LabVIEW 實施的示例 VI。
測量應用
產品特長
- 對光譜儀界面進行編程
- 計算輻射、光度和色度量
- 自動暗電流測量
- Auto-Range 功能
- 參數集定義
- 用於超快速捕獲光譜的 MultiTrack 功能
- 狀態監控
- 透射測量性能
系統範例
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藍光危害測量
依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
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基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
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利用積分球測定光通量和色度
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使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
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利用積分球測定光通量和色度
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使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
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依據 IEC 62471 和 IEC/TR 62778 標準測定藍光危害
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基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
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快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
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利用積分球測定光通量和色度
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符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
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VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
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用於角度分析顯示屏特徵測定的一體化解決方案
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基於 CAS 140D 的光譜輻射顯示屏測試系統
紅外量測系統
快速而精確地測量2150 nm以下的紅外發射器
LED / SSL 測量系統
利用積分球測定光通量和色度
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遮光 LED 測試系統 - 完整緊湊
LGS 測角儀系統
測定 SSL 光源的空間輻射特性
LumiTop 顯示屏生產測試
用於生產線質量控制的一體化解決方案
NVIS 顯示屏測量系統
符合 MIL-L-85762A/MIL-L-STD-3009 標準的測量
UV-LED 測量系統
實驗室中靈敏精準的 200 nm 以上 UV 測量
VCSEL 測量系統
使用低至 0.12 nm 的光譜分辨率測定 VCSEL 特性
VCSEL 生產測試系統
脈衝 VCSEL 的完整特性測定
