‌邀請函| 精恩光學邀您共赴CIOE光博會

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2025.9.1

第26屆中國國際光電博覽會(CIOE)將於2025年9月10-12日深圳國際會展中心舉辦。身為全球光電全產業鏈旗艦展會,本屆匯聚全球3800+企業,聚焦資訊通訊、精密光學、攝影機技術及應用、雷射製造、紅外線紫外線、智慧感測、新型顯示器及AR/VR等八大前沿領域。

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CIOE中國光博會與SEMI-e深圳國際半導體展暨2025積體電路產業創新展(SEMI-e)將同期舉辦,共同打造30萬㎡光電技術與半導體產業鏈的饗宴。

 

雙展同期將全面涵蓋‌積體電路、分離式元件、光電子元件、感測器‌四大半導體核心領域,深度完善半導體產業鏈佈局,共同服務顯示、資料中心、汽車等多個交叉領域的廣泛觀眾。

 

Instrument Systems攜手精恩光學Giant亮相本次展會,為您提供精確測量OLED/microLED顯示器、AR/VR近眼顯示器、VCSEL/IR雷射源、車載顯示器及照明等的系統解決方案。誠摯邀請各界朋友、專家蒞臨參觀我們展位,溝通交流,共探光電技術。

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展位資訊

 

時間:2025年9月10-12日

地址:深圳國際會展中心(廣東省深圳市寶安區福海街道展城路1號)

展館:3號館(精密光學展&攝影機技術及應用展)

展位:3A40-9

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展示重點

 

CAS 140D 高精度陣列光譜儀

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CAS 140D 是IS光測推出的第四代陣列式光譜儀,儀器採用經過驗證的交叉Czerny-Turner 結構,內置帶冷卻功能的CCD 探測器,在提升測量效率的同時,有助於實現穩定且可重複的測量結果,並具備良好的雜散光抑制效果和短積分時間精度,適用於對光譜分析有多種要求的應用場景。

 

LumiTop X20 / X30 - 高解析度成像色度計

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20 MP 及31 MP 的高速成像亮度與色度測量,支援從mcd/m² 到Mcd/m² 的寬動態範圍;適用於低亮度測量,具備優化的靈敏度表現;配備高曲線的電子自動對焦功能;評估亮度與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪曲線、白點對比度可進行測量時間與色彩均勻性、Mura、像素缺陷、對比度、伽瑪、白點對比時間進行測量時間值

 

LumiTop X150  - 用於亞像素級顯示測量的高解析度系統

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LumiTop X150 搭載150 MP RGB 影像感測器,並結合2×2 像素位移技術,可產生高達600 MP的X、Y、Z 影像,適用於MicroLED 和OLED 等高解析度顯示器的二維光學測量。 此系統支援在亞像素層級進行亮度與色度的影像分析,有助於實現顯示校準、像素缺陷檢測等應用。 基於成熟的LumiTop 設計,X150 在提升成像精度的同時兼顧測量效率,適用於生產測試與研發驗證等多種使用情境。

 

CoboTop - 面向AR/VR 測試的自動化解決方案

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CoboTop 是一款基於協作機器人(cobot)的自動化測試平台,由Instrument Systems 與柯尼卡美能達旗下的CoboSense 團隊共同開發,結合TOP 300 光學探頭,實現近眼顯示器的自動化測量流程。此系統適用於AR/VR 設備的生產和品管環節,可提升測試效率、重複性和操作一致性,為顯示製造商帶來更可靠的測量支援。

 

LumiTop AR/VR 近眼顯示器測量系統

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LumiTop 5300 AR/VR 配備2,400 萬像素高解析度成像感測器和直視鏡頭,適用於在顯示器安裝至頭戴裝置前進行二維測量,滿足特定生產環境下的測試需求。光譜增強型LumiTop 4000 AR/VR(1,200 萬像素)搭載潛望式鏡頭,可實現已安裝在頭戴裝置中的AR/VR 顯示器進行雙眼視角的平行測量,適合用於成品設備的2D 顯示性能驗證。

 

同期活動

 

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同期超90場會議,產、學、研、用四位一體助你看發展!中國國際光電高峰論壇包括產業論壇、CIOE&YOLE國際論壇、光+應用論壇及OGC全球光電大會,產業、學術、終端大咖都在這裡!其中,產業論壇議題涵蓋資訊通訊、光學、雷射、紅外線、量子等板塊。

 

部分論壇列表......

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預約參觀

 

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精恩光學深耕光學領域十餘載,致力於提供客戶創新、可靠的測量技術支援。這次光博會不僅是產品的展示,更是與您面對面交流、共謀發展的絕佳契機。無論您是尋求技術突破,還是探索合作可能,精恩團隊都已整裝待發,期待與您共話光測未來!

 

我們期待在2025CIOE中國光博會與您相見!

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