基于 CAS 140D 的光谱辐射显示屏测试系统
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DTS 显示屏测量系统
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测量应用
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高测量准确性和便利性
DTS 140D 显示幕测试系统是用于对显示幕亮度和所有色度参数进行光谱辐射测量的一体化系统。它基于 Instrument Systems 高端 CAS 140D 光谱仪，並已经过优化，可实现高测量准确性、高稳定性和高可变性。
DTS 140D 可普遍用于采用任何显示幕技术的测试，例如：
- 显示幕和控制元件中发光符号和字元的光度评估
- 智慧手机和平板电脑等消费产品的经典显示幕的检查
- 汽车应用中显示幕的特性测定
TOP 200 光学探头可用作测量感测器。它有一个集成到 SpecWin Pro 软体中的校准摄像机。通过该摄像机，可快速精确地将测量点定位在样本上，並且其大小可通过内置孔径轮改变。精选的镜头可将测量点直径的频宽从 0.075 mm 扩展到几釐米
SpecWin Pro 软体为分析使用 DTS 140D 获得的测量资料提供了广泛的可能性。除读数外，它还记录测量点，由此很好地促进了后续分配。
关键特性：
- 带可追溯校准的 CAS 140 系列高端光谱仪，可实现光度参数的非常大精度和稳定性。
- 通过带集成校准摄像机的 TOP 200 光学探头，可精确快速地定位测量点。
- 使用 SpecWin Pro 光软体可显示並进一步分析读数。
- 通过 DTS 500 系列机动定位系统，可进行完整显示幕特性测定。
显示幕测量的测量挑战
现今使用的大多数显示幕和背光面板都是基于 LED 或 OLED。它们或多或少的窄带、结构化光谱需要能够进行准确计量测定和评估的光谱辐射测量系统。此外，还必须在非常精细结构和高解析度中可靠地测量低亮度。
我们针对这两种情况开发了 DTS 140D，它兼具 CAS 140D 光谱仪的高灵敏度和测量准确度以及为非常小测量点设计的 TOP 200 光学探头。
系统配置
DTS 140D 一体化系统通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|
光谱仪 |
Instrument Systems CAS 140D 系列光谱仪；光谱范围 360-830 nm 或 380-1040 nm。 |
|
测量感测器 |
带校准摄像机的 TOP 200 光学探头，用于聚焦测量点並将其资讯记录在资料记录中。 |
|
软体 |
方便控制光谱仪和光学探头的 SpecWin Pro 实验室软体，以及完整的测量分析和记录。 |
|
校准 |
亮度和辐射校准，可追溯至国家标准 PTB 或 NIST。 |
|
定位系统（可选） |
DTS 400 手动定位台或 DTS 500 全自动 5 轴定位系统 |
从车用显示幕到消费电子产品测量
在汽车行业，作为第三代产品的代表，DTS 140D 已经成为测量乘客舱中发光元件的亮度和色度的标准仪器。该系统也开始广泛应用于许多其他行业，如消费电子、家用电器或航空。在这方面获得的经验将有助于进一步增强系统，並惠及每一位用户。
我们的系统专家将很乐意为您的特殊应用提供实用建议。我们将和您一起寻找合适的解决方案—敬请垂询！
产品
DTS 显示屏测量系统
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
DTS 500
用于自动显示屏测试的定位系统
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiCam 软件
用于 LumiCam 摄像机的专业分析软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
光学探头
用于测量光度量的良好配件
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
DTS 500
用于自动显示屏测试的定位系统
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiCam 软件
用于 LumiCam 摄像机的专业分析软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
光学探头
用于测量光度量的良好配件
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
DTS 500
用于自动显示屏测试的定位系统
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiCam 软件
用于 LumiCam 摄像机的专业分析软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
光学探头
用于测量光度量的良好配件
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
CAS 140D
高精度、快速阵列光谱仪 – 面向高要求测量
DTS 500
用于自动显示屏测试的定位系统
Calaris 校准软件
用于正确测量辐射
LumiCam 软件
用于 LumiCam 摄像机的专业分析软件
SpecWin Light
用于简单测量任务的强大软件
SpecWin Pro
用于获取並分析光谱测量数据的专业软件
光谱仪软件开发工具包
Instrument Systems 光谱仪编程接口
光学探头
用于测量光度量的良好配件
杂散光校正
用于减少光谱中的杂散光的校正矩阵
