在晶圆上完整表述 LED 芯片的特性
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LED 生产测量
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精准测量，确保准确分组 LED
如今，传统光源很大程度上已被基于 LED 的光源取代。许多情况下会安装多个 LED，且会尽可能确保在这些 LED 具备相同的光学和电力特性。
这些半导体部件的特性取决于多个因素，包括精准设置层型结构及构成，因此 LED 之间的微小差异可能会对单个 LED 的光学和电力特性产生严重影响。必须准确确定每个 LED 的特性，並据此分组（分箱）。在生产过程中，LED 一般要接受多次测试，具体由制造商决定。这些测试一般在晶圆级（晶圆针测和测试）以及针对已完成、可供出售的 LED 实施。
LED 工序间的检验挑战
在生产环境下，测量系统需要满足严格的要求：
- 24/7 全天候使用，並保持高度可靠性
- 较短的测量时间，以实现高输送量
- 精准控制测量时间（触发时间）
- 能够在系统与系统之间，高度再现结果
- 根据生产过程，专门调节测量套筒
解决方案：Instrument Systems 提供的 CAS 系列高端阵列光谱仪
优质阵列光谱仪已广泛用于对 LED 实施精准光学测量。Instrument Systems 提供的 CAS 140D/CAS 120 系列可一次性测量所有光谱，並从光谱中获取所有光学值。整个光学测量完成只需几毫秒。CAS 系列光谱仪几乎不包含任何活动部件，所以非常可靠，无需过多维护。
生产过程精细，且按国家标准（例如 PTB 或 NIST）实施校准，因此确保了测量结果的可比较性。此外，Instrument Systems 还开发了广泛的测量套筒产品组合，搭配丰富的配件，可以满足各种生产要求。
与国际 LED 制造商建立合作
多年以来，Instrument Systems 一直与大型 LED 制造商及其集成商合作。LED 测试系统全球安装数量多达数千台仪器。
我们在以下领域拥有丰富的专业知识，能够説明生产客户获益：
- 经证明适合生产环境的光谱仪测量系统产品组合 (CAS 140D, CAS 120)
- 测量任务的计量澄清
- 本地、异地和现场校准
- 监控和审查程式
- 校准源供应
- 並行测量
- 全球服务网路
您面临着哪些特有的挑战？我们将和您一起寻找合适的解决方案——敬请垂询！
LED multi-chip testing
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