直播課預告:快速測試晶圓上µLED及微顯示器的方法

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2023.3.22

2023年起, 德國國家認可機構(DAkkS)擴大了Instrument Systems 的認可範圍,使我們能在客戶的LGS, DMS及AMS測角儀安裝場地為DSP系列光度計進行符合ISO 17025標準的測試及調整,並提供測試證書。

此外,3月和4月,我們分別將在德國電子顯示會議(EDC)和中國國際顯示技術會議(ICDT)上,分享關於顯示器檢測和µLED 及微顯示器檢測的最新技術報告。更多細節請參見下文。期待您的參加!

-INVITATION-

\\  國際顯示技術會議ICDT邀請演講: 

《快速測試晶圓上µLED及微顯示器的方法》

時間:4月2日| 17:10-17:30 (在線直播) 
論壇24:Micro-LED 工藝和評估 
講者:Dr. Tobias Steinel
 

精彩內容:

MicroLED顯示器具有對比度高、響應時間快速、色域廣泛、低功耗和使用壽命長等特點,因此是備受業界期待的新一代顯示技術。然而,MicroLED技術在光學質量控制方面很具挑戰性,尤其是窄帶MicroLED。在演講中,TobiasSteinel博士將說明如何通過軟件,在晶圓或顯示器圖像上查找、定位及分析單個發射器。以及如何通過高速演算法,為每個發射器提供準確的光學計量參數。

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\\   EDC 2023: 

Global and RollingShutter Artifacts in DisplayMetrology

在2023年的EDC紐倫堡電子顯示會議上,Instrument Systems將就“全局和滾動快門圖像偽影的特徵及預防”這一主題發表演講。我們的產品經理Andreas Liebel將討論光度計相機的快門類型對圖像偽影的影響,並提出解決方法,以確保在高精度顯示器測試時避免這些偽影。現代的高端顯示器具有動態調節刷新率和脈衝寬度的特性,以節約能源並根據屏幕內容動態調整。這些特點為顯示測試系統提出了新的挑戰,並可能導致圖像偽影的產生。

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\\  在客戶設備的安裝現場進行符合ISO 17025標準的測試服務

自2023年1月起,Instrument Systems提供其LGS和AMS大型測角儀設備在客戶現場的安裝位置進行ISO 17025合規光強度的測試服務。這樣,即使DSP 200和DSP 10光度計在運行地點進行測試和校準,客戶也可以獲得符合ISO 17025標準的測試證書。

 

以前,現場測試的認可僅適用於Instrument Systems的DMS顯示測量系統。德國IS光測的客戶現在可以在自己的運行場所對DSP 200和DSP 10光度計進行測試和調整,並獲得符合ISO 17025標準的測試證書。這意味著質量控制和COP測試可以持續進行,而不必中斷操作並將設備拆卸送回原廠。認證的具體範圍請見DAkkS證書。

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\\   Information Display 雜誌專訪企業故事
在過去的六十年裡,發光器件如發光二極管(LED)經歷了一個激動人心的演變。它們從指示燈和數碼顯示器中微弱的紅光開始,發展到點亮電視屏幕,並成為照明家庭和街道的白光。

 

從一開始,總部位於慕尼黑的InstrumentSystems便支持LED的發展及其蓬勃發展的應用領域。Instrument Systems成立於1986年,是由Richard Distl在贏得德國青年研究競賽后所創辦。現在則是高精度光譜儀、定制系統和用於光譜光測量的軟件解決方案的領先光學設備製造商......

採訪內容由Prachi Patel發表在InformationDisplay 1/23。

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