近年來，Mini/Micro LED不斷取得突破，已成為顯示產業的主要關注點。其“薄膜化，微小化，陣列化、高集成”的優勢，在虛擬現實、智慧車載、裸眼3D、元宇宙等領域的應用方興未艾，人們期待著這一顛覆性技術在泛微顯示、通信、醫療領域有著更多的高階應用。

ISA聯合歐洲光電產業協會(EPIC) 將於2023年7月4日(15:00-18:00 (北京時間) 9:00-12:00 (CEST) ) 召開“Mini/Micro-LED 技術及應用在線研討會”，將有來自全球Mini/Micro LED研究及應用領域的專家演講。

Instrument Systems受主辦方的邀請將在線直播演講《高通量µLED晶圓測試》(High-throughput MicroLED Wafer Testing)。

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即將推出的µLEDs顯示技術具有高對比度、快速響應時間、寬色域、低功耗和長壽命等優點。但是，該技術在光學質量控制方面具有挑戰性，特別是對於窄帶寬µLEDs。

Dr. Tobias Steinel將介紹如何驗證一種軟件方法，以查找、定位和分析晶圓或顯示圖像上的單個發射器。重點是極快的分析算法，為每一個單一的發射器提供光學計量參數。

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Instrument Systems 聯合精恩光學將參加7月11日在上海國家會展中心舉辦的2023 年慕尼黑上海光博會。多位經驗豐富的光學測量技術人員，將在展位 7.1E301 為您介紹光測技術，我們熱切邀請您蒞臨參觀指導！